
CSD17507Q5A是德州仪器(TI)推出的30V耐压N沟道增强型MOSFET,采用8-PowerTDFN紧凑型封装,针对低压大电流、高效率电源及驱动场景优化设计,具备低导通电阻、快速开关特性与宽温可靠性,可满足工业、车载及便携式设备的高密度集成需求。
CSD17507Q5A的关键参数覆盖电压、电流、损耗、开关特性及温度范围,具体如下(按应用优先级整理):
参数类别 具体参数值 关键说明 电压特性 漏源击穿电压V₍DSS₎=30V;阈值电压V₍GS(th)₎=1.6V 支持12V/5V低压系统,驱动门槛低 电流特性 连续漏极电流I₍D₎=65A(Tₐ=25℃);150℃时连续电流13A 宽温度下的电流承载能力,适配功率负载 损耗特性 导通电阻R₍DS(on)₎=9mΩ@V₍GS₎=10V;最大耗散功率P₍D₎=39W 低导通损耗,热管理压力小 开关特性 栅极电荷量Q₍g₎=2.8nC@V₍GS₎=4.5V;输入电容C₍iss₎=530pF;反向传输电容C₍rss₎=30pF 快速开关,适合高频应用 热/温度特性 工作结温范围-55℃~+150℃ 工业级宽温可靠性CSD17507Q5A的9mΩ导通电阻(10V栅极驱动下) 处于同耐压MOSFET的领先水平,可显著降低导通功率损耗(公式:P=I²R)。以50A连续电流为例,导通损耗仅约22.5W,配合39W的最大耗散功率,无需额外复杂散热即可满足多数低压大电流场景需求。同时,25℃下65A的连续漏极电流,可直接驱动中等功率负载(如小型电机、大功率LED阵列)。
低栅极电荷量(2.8nC@4.5V)与低反向传输电容(30pF)是其高频性能的核心:
CSD17507Q5A的参数特性决定了其适用于以下低压大电流场景:
为充分发挥CSD17507Q5A的性能,设计时需注意以下几点:
综上,CSD17507Q5A凭借低损耗、快速开关、宽温可靠与紧凑封装的优势,成为低压大电流电源及驱动场景的高性价比选择,适用于工业、车载及消费电子领域的多种应用。