MDD50N06D 产品概述
一、主要参数与特点
MDD50N06D 是一颗 N 沟道增强型功率 MOSFET,面向中高电流开关应用。其主要电气参数如下:
- 漏源耐压 Vdss:60V
- 连续漏极电流 Id:50A(封装热限与散热条件相关)
- 导通电阻 RDS(on):17mΩ @ VGS=10V,测试电流 20A
- 耗散功率 Pd:62.5W(典型封装、规定环境下的额定值,应按实际散热条件计算)
- 门阈电压 VGS(th):2.5V(典型值)
- 输入电容 Ciss:1.889nF @ 30V
- 反向传输电容 Crss:92pF @ 30V
- 封装:TO-252(DPAK),表面贴装,便于热沉和 PCB 散热设计
品牌:MDD
二、显著优势
- 低导通电阻(17mΩ)在 10V 驱动下可显著降低导通损耗,适合大电流场合;
- 60V 耐压满足 12V/24V/48V 等常见电源轨和倒蓄电条件;
- TO-252 封装兼顾安装灵活性与热性能,适合自动贴装工艺与中功率密度应用。
三、典型应用场景
- DC-DC 降压变换器(同步整流、开关 MOS)
- 电机驱动与 H 桥单元(中小功率电机)
- 电源开关、负载切换、逆变器前端开关
- 电池管理与保护电路(需考虑脉冲、浪涌能力)
- 工业控制与车载电子(在符合温度与浪涌标准下)
四、驱动与开关注意事项
- 为达到标注 RDS(on),建议采用 VGS ≈ 10V 的门极驱动;门阈 VGS(th)≈2.5V 表明在 5V 逻辑下可能不能完全导通,非严格逻辑电平 MOSFET。
- Ciss 接近 1.9nF,门极电荷较大,需考虑驱动器的峰值电流能力与驱动速度,适当增加门极电阻以抑制振铃和过冲。
- Crss=92pF 会导致米勒效应,快速 dv/dt 时易产生意外导通或延长开关转换时间,需在驱动与栅极回路中采取抑制措施。
五、热管理与布局建议
- TO-252 封装需在 PCB 上提供大面积铜箔与热孔,通过焊盘与底层散热层快速导热。
- 计算导通损耗时应基于实际工作电流与温度条件:Pcond ≈ I^2·RDS(on)(注意 RDS 随结温升上升)。示例:在 20A 时导通损耗约 6.8W(20^2·0.017)。
- 对于高占空比或持续高电流应用,建议外接散热片或加强 PCB 散热设计,并参考器件完整数据手册中的 RthJC/RthJA 指标进行热仿真或预留安全裕量。
六、选型与可靠性提示
- RDS(on) 标注是在特定测试条件下测得(VGS=10V,ID=20A),在更高电流或较高结温下性能会下降,请按实际工况留出裕量;
- 如需在低电压驱动(如 5V)下使用,应验证是否满足导通性能,或选用逻辑电平 MOSFET;
- 关注 VGS 最大额定值、脉冲功率、SOA、浪涌电流能力等参数并参考完整数据手册以保证长期可靠性。
总结:MDD50N06D 在 60V 电压等级与中大电流场合具有较好的导通损耗优势,配合合理的门极驱动与散热设计,可用于开关电源、驱动与电源管理等多种应用。采购与最终设计前请参考厂方完整数据手册与器件可靠性资料。