SIDR626LEP-T1-RE3 产品概述
SIDR626LEP-T1-RE3 是 VISHAY(威世)推出的一款高电流、低导通电阻的 N 沟道功率 MOSFET,典型应用于开关电源、同步整流、直流-直流转换器和电机驱动等需要大电流传输与高热稳定性的场合。本器件在 60 V 漏源耐压下提供优异的导通性能与工业级工作温度(最高可达 +175℃),并采用 PowerPAK® SO-8 封装以优化热阻和PCB布局。
一、主要参数一览
- 类型:N 沟道 MOSFET
- 漏源电压 Vdss:60 V
- 连续漏极电流 Id:218 A(器件额定,需按热设计考量)
- 导通电阻 RDS(on):2.1 mΩ @ Vgs = 4.5 V
- 耗散功率 Pd:125 W(无散热器/按封装限制)
- 阈值电压 Vgs(th):2.5 V
- 总栅荷 Qg:135 nC @ 10 V(较高,影响开关损耗与驱动要求)
- 输入电容 Ciss:5.9 nF @ 30 V
- 输出电容 Coss:1.34 nF
- 反向传输电容 Crss:89 pF @ 30 V
- 工作温度:-55℃ ~ +175℃
- 封装:PowerPAK® SO-8
二、性能与优势
- 低 RDS(on)(2.1 mΩ @4.5V)意味着在低电压门驱下也能实现较小的导通损耗,适合逻辑电平驱动系统。
- 高额定电流(218A)配合低热阻封装,适合大电流开关与同步整流应用,但实际允许电流需结合 PCB 散热设计与环境温度评估。
- 宽工作温度(最高 +175℃)提高在苛刻环境中的可靠性和长期稳定性。
- PowerPAK SO-8 提供良好热性能与布局灵活性,便于在有限空间实现高功率密度设计。
三、设计要点与建议
- 栅极驱动:Qg = 135 nC 较大,建议使用高电流、低阻抗的栅极驱动器(能在短时间内提供较大电荷),以减少开关延迟与开关损耗;在高频应用中尤需注意。
- 热管理:在高电流工况下按 P = I^2·RDS(on) 计算导通损耗,结合封装热阻与 PCB 散热铜箔评估结温;必要时配合散热器或增加铜厚/散热垫。示例:100 A 导通时 P ≈ 21 W(100^2×0.0021),需相应热设计。
- 布局建议:走线要短且宽、尽量使用Kelvin源连接以降低测量与控制误差;在漏极散热处留足焊盘并采用多层过孔热通道。
- 开关优化:考虑合适的栅阻以平衡开关速度和电磁干扰;Crss(89 pF) 会影响米勒效应,选取驱动器时要考虑 Vds 变换期间的米勒电荷。
- 可靠性注意:RDS(on) 随结温上升而增加,长时间大电流运行时应保证结温在安全范围内。
四、典型应用场景
- 高效同步整流与开关电源桥臂
- 服务器与电信用 DC-DC 转换器
- 电机驱动与功率开关
- 汽车电子(非高压总线)、电池管理及逆变器辅助电路
总结:SIDR626LEP-T1-RE3 在 60 V 额定下通过低 RDS(on)、高额定电流与耐高温特性,适合要求高功率密度与可靠性的工业与消费类电源应用。选型时请结合具体工作频率、驱动能力与热设计细化功耗与结温计算,以发挥器件的最佳性能。