TDK CGA3E2C0G1H151JT0Y0N 产品概述
一、产品简介
TDK CGA3E2C0G1H151JT0Y0N 是一款贴片多层陶瓷电容(MLCC),封装0603(1608公制),标称电容150 pF,容差 ±5%,额定电压 50 V,温度系数 C0G(又称 NP0)。该系列以一类介质的高度稳定性和极低的温度漂移著称,适合对电容稳定性、介质损耗和频率响应有严格要求的应用场景。
二、主要技术参数
- 标称电容:150 pF
- 容差:±5%(J)
- 额定电压:50 V DC
- 温度特性:C0G/NP0(±30 ppm/°C 以内的典型等级)
- 封装:0603(约 1.6 mm × 0.8 mm)
- 包装形式:常见为卷带(Tape & Reel),适用于自动贴片生产线
三、性能特点
- 温度稳定性优良:C0G 介质几乎无温度漂移,适合对频率和时间常数敏感的电路。
- 低介质损耗:极低的介电损耗(DF),在高频下仍保持良好的 Q 值和自谐频率,适用于 RF 和滤波网络。
- 电容随时间几乎无老化现象,长期稳定性好。
- 小封装高可靠:0603 尺寸兼顾体积与可焊性,适合中高密度贴片设计。
- 良好的耐压与绝缘特性,适用于 50 V 额定工况。
四、典型应用
- 高频滤波与阻容网络(RF 前端、带通/陷波滤波器)
- 时钟振荡、相位锁定环(PLL)和谐振回路
- 精密模/数混合电路中的时间常数与采样电容
- 串联/耦合电容以及调谐电路中需稳定电容值的场合
五、选型与使用注意事项
- 电压漂移与自谐频率:在接近额定电压或高频应用时,注意自谐频率与寄生电感影响;C0G 在这类工况下表现优于高介电常数电容(如 X7R)。
- 温度与环境:C0G 对温度稳定性好,但在极端机械应力或热循环下仍需注意焊点和基板应力。
- 安规与去耦:若用于电源去耦并须承担较大电压或冲击电流,评估电容的电流能力与 ESR;C0G 通常容值较小,适合信号链而非大电流去耦。
- 备选型号:在无法满足电容值或体积要求时,可考虑同类 C0G 系列或其他厂商(Murata、KYOCERA、Walsin 等)的等效产品,注意封装与温漂一致性。
六、封装与焊接建议
- 采用标准回流焊工艺,建议遵循 JEDEC/J-STD-020 无铅回流温度规范(依据 PCB 及助焊剂选择具体峰值温度)。
- 设计焊盘时注意留有合适焊盘过渡,避免因焊接收缩产生机械应力;对弯折或高应力场合,考虑施加粘结或机械加固。
- 贴装与回流后避免强烈冷热冲击与板弯曲,以减少裂纹风险。
七、可靠性与存储
- 存储时应保持原厂干燥包装,避免潮湿及长时间暴露在腐蚀性气体环境中;开盘后按 J-STD-033 控制湿敏等级并在规定时间内贴装焊接。
- 使用时注意避免焊接过程中过度热应力和 PCB 弯曲,常见失效模式为电容开路或端接裂纹,设计与工艺配合可显著降低风险。
总结:TDK CGA3E2C0G1H151JT0Y0N 提供了 150 pF、±5%、50 V、C0G 温漂特性的稳定小体积解决方案,适合高稳定性、高频与精密模拟电路。选型时关注实际电压、频率和机械应力条件可确保长期可靠运行。