型号:

CL05C390JB51PNC

品牌:SAMSUNG(三星)
封装:0402
批次:24+
包装:编带
重量:-
其他:
-
CL05C390JB51PNC 产品实物图片
CL05C390JB51PNC 一小时发货
描述:贴片电容(MLCC) 50V ±5% 39pF C0G 0402
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商品单价
梯度内地(含税)
1+
0.0258
10000+
0.0211
产品参数
属性参数值
容值39pF
精度±5%
额定电压50V
温度系数C0G

CL05C390JB51PNC 产品概述

一、产品简介

CL05C390JB51PNC 是 SAMSUNG(三星)出品的一款贴片多层陶瓷电容(MLCC),规格为 39 pF ±5%(J),额定电压 50 V,温度系数 C0G(又称 NP0),封装尺寸 0402。该系列属于 Class I 稳定型陶瓷电容,具有极低的温度系数和电压依赖性,适用于对容值稳定性和低损耗有较高要求的高频与精密电路。

二、主要参数与特性

  • 容值:39 pF
  • 精度:±5%(J)
  • 额定电压:50 V
  • 温度系数:C0G(NP0,近乎零温度漂移)
  • 封装:0402(公制约 1.0 × 0.5 mm)
  • 封装形式:贴片(Tape & Reel 供货)
  • 损耗与品质因数:极低的介质损耗(低 DF),高 Q 值,适合射频与高频应用
  • 电压特性:C0G 介质在偏压下容值变化很小,适合对电压依赖性敏感的场合
  • 机械与热性能:小封装利于高密度 PCB 布局,但需注意抗弯曲与焊接应力

三、典型应用场景

CL05C390JB51PNC 因其出色的稳定性和低损耗,常用于以下场景:

  • 射频电路与前端滤波元件(匹配网络、谐振电路)
  • 精密时钟振荡器、定时网络
  • 高精度模拟电路(采样与 ADC 参考回路)
  • 信号耦合与微调电容
  • 通信设备、仪器仪表、医疗电子与工控设备中的关键旁路或滤波
  • 需要长期温度稳定性的工业级应用(若需汽车级需确认是否满足 AEC 标准)

四、性能优势说明

  • 温度稳定性优秀:C0G(NP0)介质在常用温度范围内几乎无温漂,典型温度系数在 ±30 ppm/°C 量级(视制造工艺而定)。
  • 低损耗、高 Q:在高频下表现良好,适合 RF、滤波与振荡电路,能显著降低信号衰减与相位误差。
  • 低电压依赖:与高介电常数陶瓷(如 X5R、X7R)相比,C0G 容值受偏压影响极小,保证电路性能一致性。
  • 小型化封装:0402 尺寸利于高密度贴装,减小寄生电感,改善高频特性。

五、封装与焊接建议

  • 封装尺寸 0402,适用于常规 SMT 贴装线,推荐采用厂家或 IPC 推荐的焊盘设计以降低 tombstoning 风险与开裂概率。
  • 焊接工艺:遵循 IPC/JEDEC 的回流焊规范(J-STD-020)。若为无铅工艺,需按无铅回流曲线控制峰值温度与时间。
  • 注意事项:0402 体积小,易受 PCB 弯曲或过大的夹具压力影响,贴片与回流过程中尽量避免在元件区域施加机械应力;手工焊接时避免过度加热与剧烈机械振动。

六、存储与搬运

  • 建议按厂商包装(封口卷带)存放于干燥、低尘、恒温环境,避免潮湿与剧烈温度变化。
  • 开卷后若长期不使用,应按湿敏等级(若适用)进行烘干处理或在规定时间内完成贴装与回流。
  • 装配线作业时使用适当的吸取工具、镊子或真空吸嘴,减少直接压力与冲击。

七、可靠性与测试

  • C0G MLCC 在热稳定性与频率稳定性方面具有天然优势,但仍需关注机械应力引起的裂纹(尤其在小封装与厚端子 PCB 上)。
  • 建议在设计验证阶段做:温度循环、湿热试验、振动与热冲击测试,以及应用电压下的容值漂移与损耗测试,以验证在目标应用环境下的长期可靠性。
  • 若产品用于汽车或其他严苛环境,应向供应商确认是否有 AEC-Q200 等级认证或相应的可靠性试验报告。

八、替代与选型建议

  • 若需要同类性能的替代件,可考虑其他厂商的 C0G/NP0 系列 0402 39 pF ±5% 产品(例如村田、京瓷、KEMET 等厂家对应的 NP0/C0G 器件),但在替换前应比对温漂、损耗、封装尺寸与焊盘建议以确保兼容。
  • 选型时关注:介质类型(C0G)、额定电压、容差、封装、温度/频率特性和可靠性规格。对高频应用同时关注 ESL 与 ESR 特性。

总结:CL05C390JB51PNC 是一款面向高频与精密电路的高稳定性 0402 MLCC,凭借 C0G 介质的低温漂和低损耗特性,适合用于滤波、振荡、匹配与参考网络等对容值稳定性要求高的场合。在使用时注意焊接工艺与机械应力控制,并根据具体应用做适当的可靠性验证。若需采购或用于关键应用,建议索取并参考厂商完整数据手册与可靠性报告。