IRLML6402 产品概述
一、概要介绍
IRLML6402 是华朔(HUASHUO)出品的一款P沟道增强型场效应管,采用小型 SOT-23-3 封装,适用于低压控制与负载切换场景。器件额定漏源耐压为20V,连续漏极电流4.9A,器件在紧凑尺寸下兼顾导通损耗与开关性能,适合便携式与功率受限电路。
二、主要参数
- 沟道类型:P沟道 MOSFET,数量:1个
- 漏源耐压(Vdss):20V
- 连续漏极电流(Id):4.9A
- 导通电阻(RDS(on)):45mΩ @ Vgs = -4.5V(在4.9A)
- 耗散功率(Pd):1.31W
- 阈值电压(Vgs(th)):约 -0.4V(400mV)
- 栅极总电荷(Qg):14.3nC @ |Vgs|=4.5V
- 输入电容(Ciss):1.2nF @ 15V
- 反向传输电容(Crss):151pF @ 15V
- 工作温度范围:-55℃ 至 +150℃
- 封装:SOT-23-3
三、主要特点
- 低压工作:20V 额定值适合 USB、锂电及低压电源侧高端开关。
- 低导通电阻:45mΩ 在典型栅压下可降低导通损耗,适合中小电流路径。
- 小封装:SOT-23-3 体积小,利于空间受限的便携设备。
- 开关性能平衡:Qg 与 Ciss 数值显示在驱动与开关损耗之间有良好折中。
四、典型应用
- 电源管理:高端侧负载开关、反向保护、软启动。
- 便携设备:手机配件、可穿戴、蓝牙设备的电源控制。
- 信号切换与电平转换:需P沟道高端开关的小信号与功率路径。
五、设计与使用建议
- 栅极驱动:由于为P沟道器件,栅极需相对于源极施加负向驱动(典型 -4.5V),确保足够栅压以降低RDS(on)。
- 散热管理:SOT-23-3 封装 Pd 约1.31W,PCB 铜箔与散热过孔能显著提升热能力,注意在高电流场合下布局散热。
- 切换损耗:Qg=14.3nC 与较大的 Ciss 在高频开关时会增加驱动能耗,需合理评估驱动电路能量预算。
- 保护与可靠性:若用于逆变或感性负载,推荐并用续流二极管或RC吸收,避免过压带来的应力。
六、封装与可靠性
SOT-23-3 小型封装便于自动贴装与空间优化;工作温度范围宽(-55℃ ~ +150℃),适应工业级环境。设计时注意焊接工艺与热循环对可靠性的影响。
七、采购与替代建议
在采购时确认品牌与批次(HUASHUO 华朔),并与系统要求对照 RDS(on)、Qg、Pd 等关键参数。若需更低导阻或更高功率能力,可考虑同类封装的低RDS(on)替代器件;若关注开关频率与驱动损耗,可优先选择低Qg 型号。
以上为基于器件参数的产品概述与工程使用建议,便于在电源管理与开关场景中快速评估 IRLML6402 的适用性。