CD74HCT21M96 产品概述

一、概述

CD74HCT21M96 为双通道四输入与门（2×4-input AND），属于 74HCT 系列高速互补金属氧化物半导体（HCT）逻辑器件。器件在标准 5V 电源下工作，兼顾 TTL 电平输入兼容性与 CMOS 输出驱动能力，适合在传统 TTL 逻辑与低功耗 CMOS 系统间作接口或作为通用逻辑单元使用。封装为 14-SOIC，便于表面贴装装配与量产。

二、主要参数

• 逻辑类型：与门（2 通道，每通道 4 输入）
• 工作电压：4.5 V ～ 5.5 V
• 静态电流（Iq）：2 μA（典型）
• 输出驱动：灌电流 IOL = 4 mA，拉电流 IOH = 4 mA
• 输入门限：VIH = 2.0 V，VIL = 0.8 V（TTL 兼容）
• 输出电平（典型/典型条件）：VOH ≈ 3.7 V / 3.84 V / 3.98 V（随负载与温度变化）
• 输出低电平（典型）：VOL ≈ 400 mV / 330 mV / 260 mV（随工作条件不同）
• 传播延迟：tpd = 27 ns @ VCC = 4.5 V，CL = 50 pF
• 工作温度范围：-55 ℃ ～ +125 ℃

三、特色与兼容性

• HCT 系列输入门限设计与 TTL 电平兼容，便于与经典 TTL 器件直接相连而无需电平移位。
• 极低静态电流有利于节能与系统待机性能。
• 在中等负载条件下具有稳定的传播延迟，适合时序要求不极端严苛的数字电路。

四、典型应用

• TTL 与 CMOS 混合系统的逻辑接口与门功能实现
• 工业控制、嵌入式系统与通信设备中的组合逻辑单元
• PCB 上作为通用逻辑器件替换或扩展门阵列

五、设计建议与封装信息

• 在高速切换或较大负载时，注意输出电流与 VOL/VOH 的变化，必要时使用缓冲器或下一级驱动器提升驱动能力。
• 参考典型测试条件（VCC、温度、负载电容）评估时序与电平裕量；tpd 给出的是 CL=50 pF 情况下的参考值。
• 封装：14-SOIC，标准引脚排列便于自动化贴装，注意走线与去耦电容（VCC 与 GND 近旁 0.1 μF）以保证稳定工作。

总结：CD74HCT21M96 提供低功耗、TTL 兼容的双通道四输入与门解决方案，适合通用数字电路设计与 5V 平台的接口应用。