型号:

CS1C470M-CRE54

品牌:ST(先科)
封装:SMD,D6.3xL5.4mm
批次:25+
包装:编带
重量:-
其他:
-
CS1C470M-CRE54 产品实物图片
CS1C470M-CRE54 一小时发货
描述:贴片型铝电解电容 16V ±20% 47uF 6.3mm
库存数量
库存:
2000
(起订量: 1, 增量: 1
最小包:1000
商品单价
梯度内地(含税)
1+
0.118
1000+
0.105
产品参数
属性参数值
容值47uF
精度±20%
额定电压16V
电容体直径6.3mm
电容体长度5.4mm
工作寿命1000hrs@105℃
工作温度-40℃~+105℃

CS1C470M-CRE54 产品概述

CS1C470M-CRE54 是先科(ST)系列的贴片型铝电解电容器,额定容量 47µF,额定电压 16V,容值允许偏差 ±20%。该器件采用小尺寸 SMD 封装(直径 D 6.3mm × 长度 L 5.4mm),额定工作温度范围宽(-40℃ 至 +105℃),并具有 1000 小时 @ 105℃ 的额定寿命,适用于空间受限但对性能与可靠性有要求的电源滤波、去耦与储能场景。

一、主要参数一览

  • 型号:CS1C470M-CRE54
  • 品牌:ST(先科)
  • 电容值:47 µF
  • 容差:±20%
  • 额定电压:16 V
  • 温度范围:-40℃ ~ +105℃
  • 额定寿命:1000 hrs @ 105℃
  • 封装形式:SMD(贴片)
  • 尺寸:直径 6.3 mm × 长度 5.4 mm

二、关键特性

  • 小体积高密度:D6.3×L5.4 的紧凑封装适合高密度贴装的移动设备和便携式电子产品,节省 PCB 面积。
  • 高工作温度:最高工作温度可达 +105℃,并在该温度下具有 1000 小时的寿命等级,适合轻工业级及要求中高温可靠性的应用。
  • 宽温度范围:-40℃ 至 +105℃ 的工作温度覆盖了多数消费电子与部分工业应用场景。
  • SMD 安装:贴片结构利于自动化贴装与回流焊工艺,提高生产效率和一致性。
  • 电气适用性:47µF/16V 的规格对各类 5V/12V 系统的去耦、纹波抑制与局部储能均具备良好适配性。

三、性能与可靠性说明

  • 寿命等级:额定寿命为 1000 小时 @105℃,在此条件下电容器应维持其基本电性能。实际寿命会随工作温度、电压和纹波电流的不同而变化。
  • 耐热耐候:器件设计用于较高温度工作环境,适合热量集中的电源模块或靠近热源的电路区域。
  • 漏电与失效模式:铝电解电容在高温或过压下可能出现容量衰减与漏电流上升,建议依据使用环境进行适当的电压与温度管理。
  • 建议降额使用:为延长使用寿命并提高系统可靠性,建议在长期运行情况下对工作电压进行适当降额(例如低于额定电压)并控制结温。

四、典型应用场景

  • 开关电源输出滤波与输入缓冲
  • DC-DC 转换器的输入/输出去耦
  • 音频放大电路的电源旁路与耦合(需按电路要求匹配)
  • 手机、便携式设备、机顶盒与家庭网关等消费电子产品
  • 工业控制模块中靠近电源的滤波与能量储存

五、封装与焊接建议

  • 裸片尺寸:D6.3×L5.4mm,适配常见 SMD 自动贴装设备。
  • 回流焊:建议遵循厂商给出的回流焊曲线与预热/峰值温度限制,避免反复多次高温回流。若生产流程中存在多次返修回流,应与供应商确认可靠性影响并考虑局部保护措施。
  • 存储与预处理:若元件在潮湿环境中长期存放,组件可能需要烘烤以去除吸潮,避免焊接过程中产生内部气泡或电性能异常。具体烘烤条件请参照供应商说明。
  • PCB 布局:安放位置应兼顾热源分布与电源路径最短原则,尽量缩短关键去耦电容与电源芯片之间的走线,以降低寄生电感与噪声。

六、选型与使用注意事项

  • 环境匹配:若设备在高温连续工作或高纹波电流下使用,应评估是否需要更高寿命等级(如 2000~5000 小时 @105℃)或选用更大容量/更高电压余量的型号。
  • 容差与容量裕度:±20% 的容差在大多数电源去耦场合是可接受的,但在对容量精度敏感的滤波场合,请考虑并联/串联或选择更高精度器件。
  • 替代与兼容:在需替换或改型时,注意与原器件在尺寸、引脚布局、寿命等级、电气参数(容量、耐压、ESR/ESL)方面的一致性。若需严格的低 ESR 或高频特性,请参考供应商提供的相关电气参数或选择专用低 ESR 器件。

七、采购与支持

  • 型号:CS1C470M-CRE54,品牌先科(ST)。
  • 若需批量采购、样品测试或获取更详细的电气特性(如 ESR、容抗、额定纹波电流、等效电路模型及回流焊曲线),建议联系先科或其授权分销商索取完整规格书与可靠性测试报告,以确保在目标应用中的表现符合预期。

如需我帮您整理此型号的典型 PCB 封装建议、推荐替代型号对比(含更高寿命或更低 ESR 的选项),或依据具体电路计算建议使用数量与布局,请提供电路工作电压、峰值纹波与空间限制等信息。