CGA2B3X7R1E104KT0Y0F 产品概述
一、基本参数与标识
- 型号:CGA2B3X7R1E104KT0Y0F(TDK)
- 类型:多层陶瓷贴片电容(MLCC)
- 容值:100 nF (0.1 μF)
- 初始容差:±10%
- 额定电压:25 V DC
- 温度特性:X7R(-55 ℃ 至 +125 ℃,温度范围内容值变化特性符合X7R规范)
- 封装:0402(公制 1005),非极性
- 适用包装:常见卷带(详细包装方式请参见制造商资料)
二、主要特性与优势
- 高度集成:0402 小封装适合高密度 PCB 布局,节省空间,适用于便携式与紧凑型设备。
- 容值与电压平衡:100 nF/25 V 的组合在电源去耦与旁路应用中常见,可直接用于多数中低电压电源轨。
- 温度稳定性:X7R 材料在 -55 ℃ 至 +125 ℃ 范围内保持相对稳定的介电特性(但存在温度相关的容值漂移,见下文说明)。
- 低 ESR/低 ESL:陶瓷电容具有很低的等效串联电阻与电感,适合高频旁路与瞬态抑制。
- 可靠性与寿命:TDK 品牌产品经过批量验证,具有较好的焊接和环境可靠性(具体可靠性等级与认证以制造商数据为准)。
三、典型应用场景
- 电源去耦与旁路:放置于 IC 电源引脚附近,抑制高频噪声与供电瞬态。
- DC-DC 转换器输入/输出滤波:用作快速旁路与短路瞬态响应的补偿元件。
- 模拟电路与信号过滤:用于非关键温漂要求的耦合/滤波场合。
- 移动终端、消费电子、物联网模组、通信设备等对体积与高频性能有要求的产品。
四、关于 X7R 与电容特性的说明
- 温度系数:X7R 定义下器件在 -55 ℃ 至 +125 ℃ 温度区间内的容值变化可达 ±15%(X7R 对应的是介质在该温度范围内的容值变化特性,而初始容差仍为 ±10%)。
- 直流偏压效应:高介电常数陶瓷在施加直流电压时会出现容值下降,且随电压接近额定值下降幅度增加。因此在靠近 25 V 应用时,实际有效容值可能显著低于标称值,应在设计时预留裕量或选择更高额定电压。
- 频率特性:容值随频率上升而减小,XXR 类电容在高频旁路中仍然表现优秀,但对高精度滤波/时基场合需评估频率依赖性。
- 漏电流与介质损耗:陶瓷电容漏电小、介质损耗低,适合一般电源旁路用途,但非极化也不适合替代电解电容的高容值低频去耦。
五、封装与焊接建议
- PCB 布局:尽量将电容贴近被去耦的 IC 电源引脚,走线短且面积小以降低寄生电感。
- 焊盘设计:按制造商/IPC 推荐的 0402 焊盘设计,保证稳定的焊点与良好回流焊接性。
- 回流焊工艺:遵循 TDK 的回流焊温度曲线,控制峰值温度与加热/冷却速率,避免急冷急热引发应力破裂。
- 机械应力:0402 尺寸微小但对基板弯曲、挤压较敏感,贴片及线路板加工时避免施加过大机械力,可通过合理过孔与焊盘设计降低应力集中。
- 清洗与助焊剂:推荐使用符合工业标准的助焊剂与清洗流程,避免化学残留对焊点或器件造成影响。
六、选型与使用注意事项
- 在关键或精密电路中,如果对温度稳定性与电压依赖性要求高,应考虑使用 C0G/NP0 类介质或并联低介质常数电容以补偿。
- 对于接近额定电压工作的设计,建议评估 DC 偏压下的剩余容值,必要时选用更高额定电压的 MLCC。
- 多个并联不同容值的电容能兼顾低频与高频去耦性能(例如 100 nF 与 1 nF/10 nF 并联)。
- 若用于汽车、航天或医疗等高可靠场景,请向供应商确认是否通过相应认证(如 AEC-Q200)并获取最小失效率与加速寿命测试数据。
七、采购与资料获取
- 订购型号:CGA2B3X7R1E104KT0Y0F(请以 TDK 最新资料为准)
- 包装形式:0402 卷带包装(卷带/带盘信息请参考产品规格书)
- 建议获取并保存:TDK 官方规格书(datasheet)、回流焊曲线、可靠性测试报告与失效分析文档,以便在生产与量产阶段参考。
如需更详细的电气曲线(温度特性、频率响应、DC 偏压曲线)、机械尺寸图或具体回流焊建议,我可以帮你检索并解读 TDK 官方规格书中的关键图表与数值。