GRM2195C1H682JA01D 产品概述
一、主要参数
- 型号:GRM2195C1H682JA01D(Murata)
- 封装:0805(2012公制,约2.0 × 1.25 mm)
- 电容值:6.8 nF
- 容差:±5%(J)
- 额定电压:50 V DC
- 温度特性:C0G(亦称NP0,近似 0 ppm/°C,温度稳定性优异)
- 形式:贴片多层陶瓷电容(MLCC)
二、产品特性
- 温度稳定性高:C0G介质在宽温区间内具有极低的温漂,适用于对电容值稳定性要求高的电路。
- 线性良好、低损耗:介质损耗小,Q 值高,适合高频和精密模拟电路使用。
- 直流偏压影响小:与X7R类陶瓷相比,C0G器件的直流偏压依赖性非常低,实际电容值在工作电压下变化可忽略。
- 紧凑封装:0805 尺寸提供良好尺寸/容量平衡,便于高密度板级组装。
- 适合回流焊:符合无铅回流工艺要求,便于自动化贴装与焊接。
三、典型应用
- 高频旁路/去耦:在射频前端、放大器供电去耦中表现优异。
- 谐振与滤波网络:用于高 Q 值的谐振电路、精密滤波器与振荡器中。
- 采样与采集电路:ADC 输入、采样电容与参考电源旁路,保证精度与稳定性。
- 交流耦合与阻抗匹配:适用于需要低温漂和低损耗的耦合场合。
四、PCB 布局与焊接建议
- 贴近节点:作为去耦或旁路器件时,应尽量靠近 IC 电源引脚并缩短走线。
- 接地处理:若做大面积去耦,建议底部或附近增加过孔与地平面相连以降低寄生阻抗。
- 回流焊工艺:兼容标准无铅回流,建议遵循厂商推荐的升温/保温/冷却曲线,避免超温或长时间高温作用。
- 清洗与应力:避免在焊接后对元件施加机械应力,若需清洗选用对陶瓷安全的化学剂并充分干燥。
五、可靠性与环境特性
- 稳定性:C0G 系列在温度循环、潮湿与电压应力下具有长期稳定表现,适合精密应用场景。
- 合规性:常见为符合RoHS 的无铅产品,具体合规与认证信息请以厂方规格书/出货单为准。
- 寿命与退化:陶瓷介质在正常工作条件下无电容衰减或化学老化问题,但需避免超过额定电压或遭受过大的机械冲击。
六、选型要点与替代
- 若电路需要大容量且对温漂容忍度高,可考虑X7R等介质;但若重视温度稳定性、频率响应与低损耗,C0G(NP0)为优先选择。
- 额定电压选择应留有裕量:虽然C0G直流偏压影响小,但长期高压工作仍建议适度预留余量以提高可靠性。
- 如需更高温度或更小封装,参考Murata同系列其他尺寸型号或同类厂商等效产品。
注:以上信息为器件一般特性摘要,具体电气参数、尺寸公差、回流曲线与可靠性试验数据,请以Murata 官方规格书(Datasheet)为准。