型号:

LPA2104ASOF

品牌:LOWPOWER(微源半导体)
封装:SOP-8
批次:24+
包装:编带
重量:-
其他:
-
LPA2104ASOF 产品实物图片
LPA2104ASOF 一小时发货
描述:-
库存数量
库存:
3850
(起订量: 1, 增量: 1
最小包:4000
商品单价
梯度内地(含税)
1+
0.466
4000+
0.435
产品参数
属性参数值
功放类型D类功放
输出功率3Wx1@4Ω;2.3Wx1@4Ω
工作电压2.5V~5.5V
信噪比92dB
效率85%

LPA2104ASOF 产品概述

LPA2104ASOF 是 LOWPOWER(微源半导体)推出的一款单声道 D 类功率放大器,采用 SOP-8 封装设计,针对便携类和空间受限的音频功放场合进行了性能与尺寸的优化。器件在宽电压范围内工作,具有高效率和良好的信噪比,适用于电池供电的便携音箱、蓝牙音响、玩具及 IoT 音频输出等应用场景。

一、核心特点

  • D 类功放架构,效率高(典型值约 85%),显著降低功耗与发热。
  • 支持宽工作电压 2.5V ~ 5.5V,兼容单节锂电池及常见低压电源系统。
  • 输出功率:3W ×1 @ 4Ω(在合适电源电压/负载条件下);在更低电压或更高失真要求下仍可维持 2.3W ×1 @ 4Ω 的播放能力。
  • 优良的音频品质:信噪比 92dB(典型),能保证低噪声背景与清晰的音频回放。
  • 小尺寸封装:SOP-8,利于批量生产及自动化贴装。

二、典型电气与性能指标

  • 功放类型:D 类功放(单声道)
  • 输出功率:3W ×1(4Ω,典型工况);2.3W ×1(4Ω,特定条件)
  • 工作电压:2.5V ~ 5.5V
  • 信噪比(SNR):92dB(典型)
  • 效率:约 85%(典型)
  • 封装:SOP-8

注:以上“典型”值基于标准测试条件(如测试电源电压、失真阈值和负载阻抗),具体性能以官方数据手册与工程测试为准。

三、应用场景

  • 便携式蓝牙音箱、迷你音响
  • 玩具与电子礼品的音频输出模块
  • 可穿戴 / IoT 设备的提示音/语音播报
  • 小型媒体播放设备、USB 驱动音箱(注意供电限制)
  • 需要低功耗与高效率的电池供电音频场合

四、设计与使用建议

  • 电源与去耦:建议靠近芯片的 VCC 引脚并联一个 0.1µF 陶瓷电容和一个 4.7–22µF 低 ESR 电容,减少电源抖动与瞬态压降;必要时在电源线上加串联 ferrite bead 抑制高频干扰。
  • 输出滤波与 EMI:D 类输出为开关波形,是否需要外置 LC 滤波器取决于系统对无线干扰和频谱要求;若要求严格的 EMI 控制或驱动长线/电感性负载,建议采用合适的输出滤波设计并验证。
  • 负载匹配:器件在 4Ω 负载下能获得最大输出功率;对于更低或更高阻抗的扬声器,需评估输出功率和 THD 性能变化。
  • 热管理:尽管 D 类效率高,但在满功率工作时仍有一定功耗产生。以 3W 输出、85% 效率为例,器件耗散约 0.53W(P_diss ≈ P_out × (1/η − 1)),建议在 PCB 设计中使用足够的铜面、散热走线或过孔以利散热。SOP-8 封装的功率散热能力受限,尤其在连续高功率工作时需特别关注。
  • 布局要点:将模拟输入走线靠近输入引脚布置;功率开关节点及输出走线应尽量短且对称,音频负载回路与数/模拟地分离,且在靠近器件处汇合,以降低干扰。放置去耦电容尽量靠近 VCC 与 GND 引脚。

五、引脚与封装说明(概览)

LPA2104ASOF 采用 SOP-8 封装,常见引脚功能包括:电源(VCC)、地(GND)、音频输入(IN+ / IN-)、功率输出(OUT+ / OUT-)及控制引脚(例如 EN / MUTE / SHUTDOWN 等,具体请参见官方数据手册)。在设计前请务必参考完整版针脚定义与应用电路,以确保正确连线与控制逻辑。

六、选型与系统级注意事项

  • 供电选择:若希望发挥最大功率输出,应采用接近器件上限的稳定电源(例如 5V);若以电池供电,需保证在放电期间电压不低于最小工作电压 2.5V。
  • 多声道方案:本器为单声道放大器,如需立体声输出可使用两颗 LPA2104ASOF 并联但需注意电源与地的布线、共享滤波器与 EMI 抑制。
  • 兼容性验证:系统级 EMI、音质(THD+N)、温升以及稳态/瞬态表现需在目标应用环境下做完整验证和测试。

总结:LPA2104ASOF 面向对功耗与尺寸敏感的便携音频终端,凭借其宽电压范围、高效率和较高信噪比,在单声道小功率音频放大器中具有良好的性价比与实用性。为获得最佳表现,请结合官方数据手册完成引脚连接、去耦与散热设计,并在目标系统中进行全面测试。