
AGM609MNA 是 AGM-Semi(芯控源)提供的一款双通道 N 沟道功率 MOSFET,封装为 PDFN (5×6)。该器件面向需要高电流承载与低导通损耗的开关电源、同步整流及电机驱动等应用场景。器件在 60V 漏源耐压下,单管连续漏极电流可达 70A,结合低 RDS(on) 与中等栅极电荷,能在中小功率到高瞬态电流应用中兼顾导通损耗与开关性能。
AGM609MNA 在 PDFN(5×6) 紧凑封装中集成两路 N 沟 MOSFET,有利于高密度电源模块、小型化同步整流器和双路开关设计。PDFN 封装利于底部散热,通过焊盘与 PCB 大面积铜箔实现热量传导。具体引脚排列与内部连接关系请以正式数据手册为准(包括底部散热焊盘的尺寸与焊盘建议)。
导通损耗与栅压选择
在 Vgs=10 V 时 RDS(on)=6.5 mΩ,适合使用标准 10 V 驱动以获得最低导通损耗;若采用 4.5 V 驱动,RDS(on) 增至 9.5 mΩ,导通损耗会显著上升。系统设计时,应根据效率需求与驱动能力选择合适的栅压。
开关损耗与栅极驱动
总栅极电荷 Qg=26.9 nC(Vgs=10 V),在高速开关下对驱动器峰值电流有明显要求。估算驱动器峰值电流可用 Ipk ≈ Qg / tr,其中 tr 为期望的上升/下降时间。例如若希望在 20 ns 完成栅电荷切换,所需驱动峰值约 1.35 A;若容忍更慢的开关,驱动电流需求随之降低。Crss 较小有利于降低米勒效应造成的延迟,利于快速切换。
寄生电容与开关行为
较高的 Ciss(1.456 nF)在高频开关时会增加栅极驱动能耗,但配合适当驱动器和驱动布局,可在效率与 EMI 间取得平衡。Coss 与 Crss 的值表示在能量回收、续流与关断瞬态下的表现,需在电路仿真中考虑其对电压尖峰与开关损耗的影响。
阈值电压与低电压驱动
Vgs(th)=1.6 V(@250 μA),表明器件可在较低栅压下开始导通,但在实际功率工作点下应使用高于阈值的驱动电压以获得低 RDS(on)。
器件的额定耗散功率为 54 W(在规范测试条件下)。在实际电路中,热阻由封装、PCB 铜箔面积、底部散热焊盘和温升控制共同决定。建议:
选择 AGM609MNA 时需结合系统开关频率、开关速度与效率目标来评估栅极驱动能力与散热设计。若要求极低导通损耗且驱动电压能稳定提供 10 V,则该器件在导通期表现优异;若驱动只有 4.5 V 或更低,应评估额外的导通损耗与发热。
AGM609MNA 是一款针对中高电流、60 V 等级应用优化的双通道 N 沟道 MOSFET,具备低 RDS(on)、适中栅极电荷与良好封装散热特性。合理的栅极驱动设计、良好的 PCB 散热布局与正确的工作工况,可使其在开关电源、同步整流与驱动应用中发挥出色性能。购买与应用前建议参照完整数据手册确认引脚、热阻和典型特性曲线。