型号:

BSR58

品牌:ON(安森美)
封装:SOT-23
批次:24+
包装:编带
重量:0.03g
其他:
-
BSR58 产品实物图片
BSR58 一小时发货
描述:结型场效应管(JFET) 250mW 800mV@0.5nA 40V N沟道
库存数量
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(起订量: 1, 增量: 1
最小包:3000
商品单价
梯度内地(含税)
1+
0.559
3000+
0.52
产品参数
属性参数值
栅源截止电压(VGS(off))800mV@0.5nA
栅源击穿电压(Vgss)40V
耗散功率(Pd)250mW
导通电阻(RDS(on))60Ω
漏源电流(Idss)8mA@15V

BSR58 产品概述

一、产品简介

BSR58 是 ON Semiconductor(安森美)推出的一款 N 沟结型场效应管(JFET),采用 SOT-23 小封装,面向小信号模拟与高阻抗输入电路。该器件属于耗尽型(depletion-mode)器件,常导通特性使其在模拟前端、电流源、缓冲级和开关/钳位电路中具有灵活的应用价值。BSR58 的设计在保证低栅漏电流的同时提供适中的导通性能与电压耐受能力,适合便携、消费类和工业级的小功率电路设计。

二、主要电气参数

  • 器件类型:N 沟结型场效应管(JFET,耗尽型)
  • 栅源截止电压 VGS(off):0.8 V @ IG = 0.5 nA
  • 栅源击穿电压 V(GS,SS):40 V
  • 最大耗散功率 Pd:250 mW(SOT-23 封装)
  • 导通电阻 RDS(on):60 Ω(典型/参考值)
  • 漏源电流 Idss:8 mA @ VDS = 15 V
  • 封装:SOT-23
  • 品牌:ON Semiconductor(安森美)

以上参数为型号关键特性,更多极限参数(如最大漏源电压 VDS(max)、工作结温度范围等)应以原厂 datasheet 为准。

三、关键特性与应用场景

  • 极低栅漏电流:VGS(off) 测试点表明在极微弱栅电流条件下栅源截止小于 1 V,适用于高阻抗输入电路(如传感器前端、电压跟随器)。
  • 耗尽型常导通特性:无需外加偏置即可导通,便于构建恒流源、偏置网络或模拟开关。
  • 中等 Idss 与较高 RDS(on):Idss ≈ 8 mA(在 15 V 条件下)表明器件能提供可观的小信号电流;RDS(on) ≈ 60 Ω 表明不适合大功率开关场景,但对低功耗小信号应用足够。
  • 栅源击穿耐压 40 V:栅极具有良好抗压能力,但仍需避免超过该极限以保护栅结。

典型应用场景包括:

  • 模拟输入缓冲、高阻输入放大器的前置级
  • 小电流恒流源与偏置电路
  • 信号钳位、模拟开关与电平移位电路
  • 传感器接口与测量电路中的低噪声级放大器输入

四、典型电路示例与使用注意

  • 恒流源:将 BSR58 用作恒流源时,可在源极串联一电阻,通过栅源偏置设定工作点。由于 Idss 较高,可在较宽电压范围内得到稳定的恒流输出,但需注意功耗限制。
  • 源跟随器(电压缓冲):JFET 源跟随器可以提供高输入阻抗、低输出阻抗的缓冲功能,适合驱动后级或模拟采样电路。
  • 输入保护与钳位:利用耗尽型特性实现对输入信号的限幅或保护,栅极的击穿电压较高,有利于承受瞬态。

使用注意:

  • 严格遵守 Pd(250 mW)和芯片结温限制,避免在无足够散热的条件下长期承受高电流或高 VDS。
  • VGS 不应超过 40 V(栅源击穿),并避免大幅超过 VGS(off) 引起不可预测的偏置变化。
  • 在快速开关或过渡条件下,尽管栅漏电流低,但仍应关注电容-寄生寄件可能引起的瞬态响应。
  • 如需精确工作点(低漂移或低噪声),建议在实际电路中进行温度与电压的仿真/测量校准。

五、封装与热管理

BSR58 使用 SOT-23 小封装,适合表面贴装工艺(SMT)与空间受限设计。SOT-23 的热阻较大,因此在接近额定耗散功率时需对 PCB 散热进行考虑:

  • 采用较宽的铜箔散热区域(短路地或散热岛),并通过过孔连接到内部或背面铜层以提高散热能力。
  • 在高环境温度或连续高功耗场合,应对器件进行降额工作(derating),以保证可靠性与寿命。

六、选用建议与替代方案

  • 如果电路要求极低导通电阻或用于高电流开关,应选用低 RDS(on) 的 MOSFET 而非本 JFET。
  • 若需要更低噪声、更精确的 Idss 控制,可选择在 datasheet 中标注更窄 Idss 范围或进行筛选的 JFET 型号。
  • 在需要更高功耗能力或更高封装热能力时,考虑使用 SOT-223、TO-92 或功率更高的封装器件。

总结:BSR58 是一款适用于小信号、高阻抗输入与低至中等电流场合的 N 沟 JFET,凭借低栅漏电流与耗尽型常导通特性,在模拟前端、恒流源与缓冲级等电路中具有良好适配性。设计时应重点关注封装热耗散与 VGS 限制,并根据具体应用参考原厂 datasheet 以获取完整的极限与典型参数。