型号:

CC0201MRX5R6BB105

品牌:YAGEO(国巨)
封装:0201
批次:25+
包装:编带
重量:-
其他:
-
CC0201MRX5R6BB105 产品实物图片
CC0201MRX5R6BB105 一小时发货
描述:1µF-±20%-10V-陶瓷电容器-X5R-0201(0603-公制)
库存数量
库存:
5396
(起订量: 1, 增量: 1
最小包:15000
商品单价
梯度内地(含税)
1+
0.0162
15000+
0.0128
产品参数
属性参数值
容值1uF
精度±20%
额定电压10V
温度系数X5R

CC0201MRX5R6BB105 产品概述

一、主要参数与型号说明

CC0201MRX5R6BB105 是 YAGEO(国巨)系列的表面贴装多层陶瓷电容器(MLCC),主要参数如下:

  • 标称电容:1 µF
  • 公差:±20%(M)
  • 额定电压:10 V DC
  • 温度特性:X5R(工作温度范围与容值随温度变化特性)
  • 封装:0201(常标注为 0201 / 0603-公制 尺寸对照)
  • 品牌:YAGEO(国巨)

该型号面向对尺寸、空间和高频去耦有严格要求的移动设备与高密度 PCB 布局场景。

二、材料与温度特性

X5R 属于陶瓷电容的 Class 2(高介电常数)材料体系,特点是介电常数较高,从而在小封装下能实现较大电容值。X5R 的温度特性准则为:在 -55°C 至 +85°C 范围内,容量变化在 ±15% 以内(这是材料随温度的变化限值),但器件出厂标注的静态公差仍为 ±20%。

需要注意:

  • X5R 属于非线性介质,对温度、施加的直流偏压(DC bias)和老化都会产生可测的容量变化。
  • 在低温或接近额定电压工作时,实际可用电容会小于标称值,应结合电路需求做实测或留有裕量。

三、电气特性与使用注意

  • 高频特性:0201 小封装具有较低的等效串联电感(ESL),适合作为电源去耦与高频旁路件,能有效抑制高频噪声。
  • 等效串联电阻(ESR):陶瓷电容 ESR 很低,适于瞬态响应需求,但在滤波器设计时要注意与电路阻抗的匹配。
  • 直流偏压效应:Class 2 陶瓷在施加 DC 电压时电容会下降,幅度取决于材料、厚度与电极结构。在 0201 封装、1 µF 容值与 10 V 额定下,接近额定电压时电容下降可能明显(从数十个百分点到更大),建议在设计时预留裕度或在样片上测量实际偏压曲线。
  • 耐压与绝缘:额定 10 V 表示在额定条件下可正常工作,弧焊或瞬态过压需考虑保护措施(如浪涌抑制、过压保护)。

四、典型应用场景

  • 电源旁路/去耦:贴近 IC 电源引脚以抑制高频干扰与瞬态电流。
  • 手机、无线设备和可穿戴设备:对空间和频率响应要求高的便携设备 PCB。
  • 高密度模块、模块化电源和点对点电源滤波:用于补偿企业级或消费级产品中对小体积电容的需求。 注意:X5R 不适合作为高精度定时或高稳定性滤波器中对容量长期稳定性有严格要求的场合。

五、封装、贴装与焊接建议

  • 放置位置:去耦用途时应尽量靠近器件电源引脚,走线最短且宽度充足以降低回路阻抗。
  • 贴装工艺:0201 为极小封装,推荐使用高精度贴片机和适配的真空吸嘴,避免偏移或翻转。
  • 回流焊:遵循供应商的回流温度曲线,避免过长高温暴露导致性能退化或裂纹。焊接后的冷却应平稳,避免热冲击。
  • 机械应力:陶瓷电容抗弯曲性能较差,设计时应避免在焊盘与器件之间有过大机械应力;在布局和过孔、基材厚度上留意。

六、可靠性与环境注意

  • 老化:Class 2 陶瓷会发生老化(介电常数随时间下降),老化率随材料和工艺不同而异,通常在出厂后需要考虑初始期的容量降低。针对关键应用可采用退火处理降低老化速率,或进行长期稳定性验证。
  • 温湿度与应力:在高湿高温或机械应力下可能出现失效,PCB 设计要确保良好应力释放和防潮措施。
  • ESD 与浪涌:虽不直接影响电容值,但在有严重浪涌或静电的场合应采纳保护元件以延长使用寿命。

七、选型建议与替代方案

  • 若电路对容量稳定性和温度系数要求更严,可考虑使用 Class 1(如 C0G/NP0)或增大额定电压与封装尺寸的方案。
  • 对于更高的直流偏压容值保留,可选用更高额定电压(16 V、25 V)或改用更大封装(如 0402、0603)。
  • 与其他厂商的同类产品(Murata、KEMET、TDK 等)在规格上可进行对比,重点关注 DC-bias 曲线与封装尺寸下的实际容值。

总结:CC0201MRX5R6BB105 在超小封装下提供较大电容,适用于空间受限且需要高频去耦的场合,但在使用时须重视 X5R 的温度、DC-bias 与老化特性,并在 PCB 布局和焊接工艺上采取相应的措施以保证长期可靠性。若电路对容值稳定性要求高,建议通过样机验证或选择更适合的材料/封装。