DN2470K4-G 产品概述
一、产品简介
DN2470K4-G 是 MICROCHIP(美国微芯)提供的一款表面贴装型 N 沟道功率 MOSFET,面向高压、低电流的开关与保护场合。器件额定漏源电压高达 700V,适用于开关电源初级侧、高压钳位与浪涌抑制等需要承受高电压但电流要求较低的应用。封装为 TO-252(D‑PAK),便于自动贴片和可靠的散热连接。
二、主要参数
- 类型:N 沟道 MOSFET(表面贴装)
- 漏源电压 Vdss:700V
- 连续漏极电流 Id:170mA(Tj 条件下)
- 导通电阻 RDS(on):42Ω @ 0V, 100mA(资料中给出该测试条件,实际设计请以厂商完整数据表为准)
- 耗散功率 Pd:2.5W(Ta)
- 输出电容 Coss:60pF
- 输入电容 Ciss:540pF @ 25V
- 反向传输电容 Crss(Crss):25pF
- 工作结温范围 Tj:-55℃ ~ +150℃
- 封装:TO-252 (D‑PAK),表面贴装
三、关键特性解析
- 高耐压能力(700V):适合直接承受开路或浪涌电压的电路,如离线电源初级开关、浪涌限流器及高压钳位网络。
- 低电流等级(Id=170mA):器件定位为高压低电流开关或保护元件,而非高功率主开关,适合驱动小电流负载或作为串联/并联保护单元。
- 电容特性对开关性能的影响:Ciss=540pF 表明门极电荷与驱动能量需求处于中等水平,驱动器需提供足够的峰值电流以实现预期的开关速度;Crss=25pF(Miller 电容)会影响开关过渡区的稳定性和电压翻转,应在门极驱动和补偿设计中考虑。
- 热耗散与封装:Pd=2.5W(Ta)在无额外散热条件下限制了持续功率能力,TO‑252 的散热依赖 PCB 铜箔和焊盘设计。
四、典型应用场景
- 离线开关电源的高压侧小信号开关或辅助电路
- 浪涌 / 反向电压钳位与保护电路
- 高压测量、隔离电源以及工业控制中的高压接口
- 光耦驱动、仪器仪表中高压低电流开关路径
五、封装与热设计建议
- TO‑252(D‑PAK)通过底部散热片和焊盘传导热量,建议在 PCB 下方设计足够的铜箔面积与多条热过孔(thermal vias)以降低结‑壳热阻。
- 在高环境温度或连续开关场合,应计算结温上升:Tj = Ta + Pd × θJA,确保工作结温 < 150℃。必要时并联热铜或加装散热器。
- 焊接与回流:遵循 D‑PAK 常规回流工艺并参考厂商推荐的焊接曲线以避免封装与内部应力。
六、选型与设计建议
- 注意 RDS(on) 的测试条件与门极电压,若资料中给出的 42Ω 条件为异常表示,请以完整规格书的典型/最大值与测试条件为准;对开关损耗和导通压降进行保守估计。
- 若应用需要更高导通电流或更低导通损耗,应考虑并联多个器件或选用更低 RDS(on) 的同类高压 MOSFET。
- 在软开关或高 dv/dt 场合,应评估 Crss 导致的 Miller 效应,必要时加入缓冲电阻或 RC 阻尼以控制过渡过程。
- 对于脉冲应用,依据 Coss 与 Ciss 估算开关能量与门极驱动能量,确保驱动器能提供足够电流脉冲。
七、总结
DN2470K4-G 是一款针对高压、低电流场合优化的表面贴装 N 沟道 MOSFET,700V 耐压、适中的寄生电容特性和 TO‑252 便于 PCB 装配与散热设计。其定位适合开关电源初级侧保护、浪涌钳位及高压小电流开关等场景。为确保可靠性和预期性能,设计时应重点关注器件在实际门极驱动条件下的 RDS(on)、热管理以及寄生电容对开关行为的影响;最终选型与电路设计请以 MICROCHIP 的完整数据手册为依据。