型号:

AOD413A

品牌:HXY MOSFET(华轩阳电子)
封装:TO-252-2L
批次:两年内
包装:编带
重量:-
其他:
-
AOD413A 产品实物图片
AOD413A 一小时发货
描述:场效应管(MOSFET) 8W 40V 25A 1个P沟道
库存数量
库存:
3542
(起订量: 1, 增量: 1
最小包:2500
商品单价
梯度内地(含税)
1+
0.74
100+
0.494
1250+
0.449
2500+
0.411
产品参数
属性参数值
数量1个P沟道
漏源电压(Vdss)40V
连续漏极电流(Id)25A
导通电阻(RDS(on))31mΩ@10V,8A
耗散功率(Pd)8W
栅极电荷量(Qg)20nC@10V
输入电容(Ciss)1.034nF@20V
反向传输电容(Crss)79.5pF@20V

AOD413A 产品概述

一、产品简介

AOD413A 是华轩阳电子(HXY MOSFET)推出的一款 P 沟道功率场效应管,封装为 TO-252-2L(DPAK 类似封装),面向中低压、高电流的开关及功率管理场合。该器件在 40V 漏源耐压条件下,提供较低的导通电阻和较小的栅极电荷,适合作为高端(high-side)开关、负载开关与电源路径控制元件。

主要参数概要:

  • 极性:P 沟道
  • 漏源电压 Vdss:40V
  • 导通电阻 RDS(on):31 mΩ @ VGS = 10V, ID = 8A
  • 连续漏极电流 Id:25A
  • 最大耗散功率 Pd:8W
  • 栅极电荷 Qg:20 nC @ VGS = 10V
  • 输入电容 Ciss:1.034 nF @ 20V
  • 反向传输电容 Crss:79.5 pF @ 20V
  • 封装:TO-252-2L

二、主要特性与电气性能

  • 低导通损耗:在 VGS = 10V 驱动下,RDS(on) 仅 31 mΩ(在 8A 条件下测得),在中等电流工况时导通损耗较低,有助于提高效率并降低结温上升。
  • 较高电流承载能力:器件标称连续漏极电流可达 25A(受封装和散热条件限制),满足较大电流回路的要求。
  • 合理的开关特性:Qg = 20 nC 与 Ciss = 1.034 nF 的组合,使得栅极驱动能量和驱动器负担处于中等水平,便于用常见驱动器或 MCU/门驱直接驱动(视频率而定)。
  • 适用中低压场合:Vdss = 40V,适合汽车电子(非车规高压)、电源管理、通信及工业控制等需要 12–24V 总线的应用。

三、热与损耗评估(示例)

  • 导通损耗示例:在 8A 时的导通功率 Pcon = I^2 × RDS(on) ≈ 8^2 × 0.031 ≈ 1.98 W(约 2W),此功率将在封装引脚及外部散热结构上以热的形式释放。
  • 包络功率限制:器件最大耗散功率为 8W,但此值依赖于 PCB 散热(焊盘面积、铜厚、风冷条件等),实际电流应根据工作环境与允许结温进行热设计和降额。
  • 开关损耗:单次栅极充放电能量可用 0.5·Ciss·V^2 估算,若以 10V 驱动,Egate ≈ 0.5 × 1.034nF × (10V)^2 ≈ 51.7 nJ/次。若开关频率较高(数十 kHz 以上),栅极驱动功耗与开关损耗需要重点考量。

四、典型应用场景

  • 高端(P沟)电源开关:用于低压母线下的高端断路、负载切换与功率路径控制,替代机械继电器实现更高响应速度与更长寿命。
  • 反向电流保护与电池管理:可用于电池切换、逆流防护、充放电路径控制。
  • 同步整流与电源管理:在某些拓扑(低频或特殊设计)中作为高端器件参与功率转换。
  • 工业与通信设备:12V/24V 供电系统中的负载控制、分配与保护。

五、封装与热设计建议

  • 封装:TO-252-2L(DPAK)便于表面贴装,但散热依赖 PCB 大面积焊盘与散热层(过孔+内层铜平面)。
  • PCB 布局建议:
    • 增大 D-S 焊盘铜面积并与底层铜通孔连接,形成有效散热通路。
    • D-S 引线短且宽,减少寄生电阻与电感,改善开关性能。
    • 栅极线路使用近距接地,避免长走线引起振荡,必要时在栅极并联小电阻(10–100Ω)与 RC 缓冲。
  • 热管理:在持续大电流工作下,需通过铜箔加厚、散热片或风冷手段确保结温在安全范围内;合理降额使用可延长可靠性。

六、选型与使用注意事项

  • 驱动电压要求:RDS(on) 数据在 VGS = 10V 下给出,建议尽量以接近该驱动电压驱动以获得标称导通电阻;若栅极驱动受限(如低于 10V),需查阅器件数据手册获取低 VGS 下 RDS(on) 的变化或进行实验验证。
  • 温度影响:RDS(on) 会随结温上升而增大,实际导通损耗与热升高呈反馈,设计时应考虑热阻与环境温度的联合作用,必要时进行热仿真或实测。
  • 开关频率与驱动功耗:若工作在中高频开关(数十 kHz 以上),需评估栅极驱动能量及器件开关损耗对总效率的影响,适当选择栅极驱动方案与驱动速度。

七、结论

AOD413A(HXY MOSFET)以 40V 的耐压、31 mΩ 的低 RDS(on)(10V 驱动下)及适中的栅极电荷,构成在 12–24V 电源系统中广泛使用的高端 P 沟道开关解决方案。其 TO-252-2L 封装适合贴片安装与 PCB 散热设计,适用负载开关、路径控制与电源管理等场合。使用时应重点关注驱动电压、散热设计与开关频率带来的能量损耗,以确保可靠稳定运行。