型号:

SN74HC10PWR

品牌:TI(德州仪器)
封装:TSSOP-14
批次:21+
包装:编带
重量:0.204g
其他:
-
SN74HC10PWR 产品实物图片
SN74HC10PWR 一小时发货
描述:与非门-IC-3-通道-14-TSSOP
库存数量
库存:
1473
(起订量: 1, 增量: 1
最小包:2000
商品单价
梯度内地(含税)
1+
0.66
2000+
0.608
产品参数
属性参数值
逻辑类型与非门
通道数3
工作电压2V~6V
静态电流(Iq)2uA
灌电流(IOL)5.2mA
拉电流(IOH)5.2mA
输入高电平(VIH)1.5V~4.2V
输入低电平(VIL)500mV~1.8V
输出高电平(VOH)5.9V;1.9V;4.4V
输出低电平(VOL)100mV;400mV;330mV
系列74HC系列
传播延迟(tpd)16ns@6V,50pF
工作温度-40℃~+85℃
输入通道数3

SN74HC10PWR 产品概述

一、器件简介

SN74HC10PWR 是德州仪器(TI)推出的三路与非门(triple 3-input NAND)逻辑器件,属于 74HC 系列高速 CMOS 家族。器件工作电压范围为 2V 至 6V,静态功耗极低(Iq 典型值 2µA),适合对功耗和体积要求较高的数字电路。封装为 TSSOP-14(PWR),便于表面贴装与批量生产。

二、主要规格要点

  • 逻辑类型:与非门(3 输入 NAND),通道数:3(每通道 3 输入)。
  • 工作电压:2.0V ~ 6.0V。
  • 静态电流(Iq):典型 2µA(电源电压与温度变化会影响)。
  • 输出驱动能力:IOL / IOH ≈ 5.2mA(源、吸电流能力对中等负载足够)。
  • 输入阈值:VIH 范围约 1.5V ~ 4.2V,VIL 范围约 0.5V ~ 1.8V(阈值随 VCC 变化)。
  • 输出电平示例:VOH/ VOL 的测试结果有若干典型值(如 VOH:5.9V、1.9V、4.4V;VOL:100mV、400mV、330mV),这些值依赖测试条件(VCC、负载电流、测试模式),实际设计应参照器件数据表中的测试基准。
  • 传播延迟(tpd):约 16ns(VCC = 6V,负载 C = 50pF)。
  • 工作温度:-40℃ ~ +85℃。
  • 封装:TSSOP-14(PWR),适合 SMT 组装与紧凑 PCB 布局。

三、电气特性与设计注意事项

  • 电源与地:HC 系列对电源滤波较敏感,建议在 VCC 旁靠近器件放置 0.1µF 陶瓷去耦电容,以抑制瞬态噪声与降低传播延迟抖动。
  • 输出驱动与负载:器件输出可提供约 5.2mA 的源/吸能力,适合驱动小信号负载或作为逻辑级联。若需驱动大电流负载(继电器、指示灯、电机等),应增加驱动器或缓冲级。
  • 输入阈值:74HC 的输入阈值随 VCC 线性变化,设计接口时注意保证输入电平在 VIH / VIL 范围内,尤其是低电压工作(2.0V ~ 3.3V)时。
  • 延迟与负载电容:传播延迟受 VCC 与负载电容影响,较大的输入/输出电容会显著增加 tp d,若对速度敏感需尽量减小走线长度与负载电容。
  • ESD 与保护:在装配与测试过程中注意静电防护,输入输出端应避免直接连接到高压或感性负载,以免损坏内部结构。

四、典型应用场景

  • 数字组合逻辑电路:用于实现条件判断、地址译码、逻辑合成和门级胶合(glue logic)。
  • 微控制器接口与信号整形:在 2V~6V 的系统中可作为低功耗的逻辑前端。
  • 电源受限或电池供电设备:低静态电流特性使其适合便携式设备、传感器节点与功耗敏感的系统。
  • 原型与量产板:TSSOP-14 封装兼顾体积与可焊性,适用于中小批量与量产制造。

五、封装与布局建议

  • TSSOP-14(PWR)适合高密度 PCB 布局,焊盘尺寸与热阻相对较小;焊接工艺需控制回流曲线以保证焊点可靠性。
  • 布局时尽量缩短信号走线并保留完整的地平面,减少串扰与延迟;高频或噪声敏感电路附近应合理隔离。
  • 器件工作温度范围 -40℃~+85℃,工业级应用环境需注意温升与散热条件。

六、选型建议与替代件

  • 若需与 TTL 电平直接兼容,可选 74HCT 系列相应型号;若关注更强驱动能力或更低延迟,可考虑缓冲器或更高速的 HC 系列器件。
  • SN74HC10PWR 适合在需要三路 3 输入 NAND 的场合替换使用,若需要 DIP/通孔封装进行快速验证,可选取对应的 SOIC 或 DIP 版本进行试验后再转为 TSSOP 量产。

总结:SN74HC10PWR 提供了在 2V~6V 范围内低功耗、高密度的三路 3 输入 NAND 功能,适用于多数中速数字逻辑场合。实际设计时请关注输出负载、输入阈值随电源的变化以及去耦与 PCB 布局,以保证稳定可靠的电路性能。有关精确的测试条件与极限参数,请参考 TI 官方数据手册以获取完整电气特性曲线与应用说明。