C4532X7R2A225KT0L0U 产品概述
一、概述
TDK C4532X7R2A225KT0L0U 为表面贴装多层陶瓷电容(MLCC),标称容量 2.2µF,容差 ±10%,额定电压 100V,介质为 X7R,封装尺寸为 1812(公制约 4532)。该系列针对需要中高电压耐受与中等温漂稳定性的场合设计,兼具小体积与较高的比容,适合电源滤波、去耦与能量缓冲等应用。
二、主要参数
- 容值:2.2µF(225)
- 容差:±10%(K)
- 额定电压:100V DC
- 介质:X7R(-55°C 至 +125°C,温度系数允许在此范围内变化)
- 封装:1812(约 4.5 × 3.2 mm)
- 封装形式:贴片(MLCC)
三、特性与性能
- X7R 介质在宽温度范围内提供较稳定的电容量(典型温度特性约 ±15%),适合在一般工业温度范围内使用。
- MLCC 本身具有低等效串联电阻(ESR)与高频特性良好,适用于快速瞬态抑制与高频去耦。
- 大容量与高电压结合会存在直流偏置效应,施加高直流电压时实际电容值会下降,设计时需考虑实际工作电压下的有效电容。
- 1812 尺寸兼顾电容容量与布局密度,机械强度较小封装更好,但仍需注意焊接与机械应力。
四、典型应用
- 开关电源输入/输出滤波、直流链路(DC-link)补偿
- 中高压降压/升压转换器的能量储存与纹波滤除
- 工业电源、高压驱动电路、通信设备的去耦与旁路
- 其他需要较高工作电压且空间受限的电子系统
五、使用注意事项
- 直流偏置与温度依赖:在设计时参考厂商曲线,确认在工作电压与温度下的实际电容满足需求。
- 电压降额:长期可靠性建议对额定电压进行适当降额,尤其在高温或振动环境下。
- 焊接与安装:按推荐回流焊温度曲线操作,避免过度机械应力和 PCB 弯曲,贴装后尽量减少重工。
- 可靠性验证:对关键应用建议进行寿命和热循环测试;若用于汽车或医疗等苛刻环境,请确认是否具备相应资格与认证。
六、包装与订购信息
- 型号:C4532X7R2A225KT0L0U(TDK)
- 封装:1812 贴片电容,通常以卷带(tape & reel)形式供货,具体包装数量与交货期请咨询供应商或查阅 TDK 数据手册。
- 选型建议:在最终选型前,请下载并核对 TDK 官方数据手册与电容在不同偏置/温度下的性能曲线,必要时索取样品并进行实际电路验证。