CESD5V0AP-ES 产品概述
一、产品简介
CESD5V0AP-ES 是 ElecSuper(静芯微)推出的一款双路单向 ESD 保护器件,采用 SOT-23 小型封装,专为接口和信号线的静电放电(ESD)防护设计。器件在保持低漏电、快速响应的同时,提供高达 180W(8/20µs)的瞬态吸收能力和 16A 的峰值脉冲电流能力,适用于手机、平板、USB、HDMI、音频/视频、工业控制和其它对信号完整性和保护要求兼顾的应用场景。
二、主要电气参数(典型值/关键值)
- 类型:双路单向 ESD 保护(双通道、单向 TVS)
- 反向截止电压 Vrwm:5 V
- 击穿电压(典型):6 V
- 钳位电压 Vc:约 20 V(在 Ipp 条件下)
- 峰值脉冲电流 Ipp:16 A(8/20µs)
- 峰值脉冲功率 Ppp:180 W(8/20µs)
- 反向漏电流 Ir:1 µA(在 Vrwm 条件下)
- 结电容 Cj:约 110 pF(典型)
- 通道数:双路
- 工作温度范围:-40 ℃ ~ +125 ℃
- 防护等级:符合 IEC 61000-4-2 ESD 标准
- 封装:SOT-23
三、功能与工作原理
该器件为单向 TVS(二极管型)结构,平时呈高阻态,对线路几乎无影响;当线路电压超过器件击穿电压或遇到静电冲击时,TVS 二极管快速导通,将瞬态能量钳位并导入地线,从而保护后端电路免受过压损伤。双路设计可在一个 SOT-23 封装内为两条信号线分别提供独立保护,节省 PCB 空间和成本。
四、产品优势(要点)
- 高能量吸收能力:Ppp 180W(8/20µs)配合 16A 峰值脉冲电流,可承受较强的静电和浪涌事件。
- 低工作电压与可控钳位:Vrwm 5V,击穿 6V,钳位约 20V,适配常见 5V 信号接口。
- 低漏电流:工作状态下 Ir 仅 1 µA,适合对静态功耗敏感的系统。
- 小体积封装:SOT-23,便于高密度 PCB 布局。
- 双路集成:一个封装保护两个信号线,便于接口保护(例如差分对或两路单端信号)。
- 满足 IEC 61000-4-2 ESD 防护要求,提高产品可靠性与抗扰度。
五、典型应用场景
- USB、Micro-USB、USB-C 接口保护
- 音频、耳机插孔、麦克风线缆接口保护
- 串行接口(UART、I2C、SPI)和按键/按压开关的外部线路保护
- 工业控制信号输入、传感器信号线
- 家电与消费电子的外部端口防护
六、PCB 选型与布局建议
- 放置位置:尽量靠近被保护的外部连接器或接口,缩短输入端与器件之间的走线长度,减小环路面积。
- 接地要求:器件的接地端需直接回到系统地(GND),保证低阻抗回流路径,避免通过长地线或多个地平面引入寄生阻抗。
- 走线与阻抗:结电容约 110 pF,接入高频或高速差分信号(如高速 USB/HDMI)时会影响信号完整性,应评估结电容对带宽的影响;必要时选择低容型 TVS 或在受保护线与高速线之间加缓冲/隔离。
- 熔断与可靠性:在可能的高能环境下,可在保护器前端加串联限流元件(如微型保险丝或阻性器件),提高整体抗浪涌能力。
七、使用注意事项
- 单向器件设计,适用于正向瞬态钳制至地的应用,不适合需要双向(对称)保护的纯交流或双向信号(除非旁路或特殊设计)。
- 确认 Vrwm(5V)与系统正常工作电压匹配,长期工作电压不得超过 Vrwm,以免产生额外漏电或提早失效。
- 结电容 110 pF 在低速或监听类信号一般可接受,但在高频差分信号中可能造成插入损耗或失配,设计时需评估信号完整性。
- 使用过程中应注意器件的热管理与环境温度(-40~125 ℃),在极端环境下应验证器件的长期可靠性。
八、测试与可靠性
制造厂通常会对器件进行 IEC 61000-4-2 ESD 静电放电测试,并提供 8/20 µs 浪涌波形下的 Ppp 与 Ipp 能力数据。实际工程应用中,建议在样机阶段进行系统级的 ESD 与雷击浪涌测试,验证在真实接地与布线条件下的性能。
九、选型建议
当目标为保护 5V 或以下的单向信号、需要双路保护且 PCB 空间受限时,CESD5V0AP-ES 是高性价比的选择。若系统对高频信号完整性要求非常高,应考虑更低结电容的 TVS 器件或在保护策略上采用差分对保护/前置隔离的方案。
如需器件封装、引脚图或更详细的电气特性(如钳位随电流曲线、漏电随电压曲线、结电容测试条件等),建议索取 ElecSuper(静芯微)官方数据手册以获取完整参数与典型应用电路。