型号:

HT-817-B-F

品牌:恒拓电子
封装:DIP4
批次:待确认
包装:管装
重量:-
其他:
HT-817-B-F 产品实物图片
9.5
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描述:未分类
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商品单价
梯度内地(含税)
1+
0.12255
100+
0.09196
产品参数
属性参数值
输入类型DC
输出类型光电三极管
正向压降(Vf)1.2V
输出电流50mA
隔离电压(Vrms)5kV
直流反向耐压(Vr)6V
负载电压80V
输出通道数1
集射极饱和电压(VCE(sat))100mV@1mA,20mA
上升时间(tr)4us
下降时间3us
工作温度-55℃~+110℃
电流传输比(CTR)最小值130%
电流传输比(CTR)最大值/饱和值260%
正向电流(If)50mA

HT-817-B-F 产品概述

一、产品简介

HT-817-B-F 是恒拓电子推出的一款单通道光电三极管隔离器(光耦合器),采用标准 DIP-4 直插封装。器件以发光二极管 (LED) 驱动内置光电三极管来实现信号隔离与传输,提供高达 5kVrms 的输入/输出电气隔离能力,适合用于数字或低频模拟信号的隔离传递与接口保护。

二、主要规格与特性

  • 隔离电压(绝缘耐压):5 kVrms
  • 输入类型:DC(LED 驱动)
  • 直流反向耐压 Vr:6 V
  • 正向压降 Vf(典型):1.2 V(在额定 If 下)
  • 正向电流 If(最大):50 mA
  • 输出类型:光电三极管
  • 输出电流(Collector 最大):50 mA
  • 负载电压(Collector-Emitter 最大):80 V
  • 集射极饱和电压 VCE(sat):100 mV(测试条件标注:100 mV @ 1 mA, 20 mA)
  • 电流传输比(CTR):最小 130%,典型/饱和值可达 260%(说明器件为高增益型)
  • 上升时间 tr:4 µs;下降时间 tf:3 µs(适用于低频及中速数字信号)
  • 工作温度范围:-55 °C ~ +110 °C
  • 封装:DIP4;输出通道数:1
  • 品牌:恒拓电子(HT)

三、典型电气性能与设计计算示例

  • CTR 含义:CTR = IC / IF × 100%。HT-817-B-F 的 CTR 最低 130%,最高/典型可达 260%,表示在相同 LED 驱动电流下,输出三极管可提供较大的集电极电流,利于低驱动电流获得足够的输出电平。
  • 例:若设计中 LED 驱动电流 If = 1 mA,则按 CTRmin = 130% 计算,输出电流 Ic_min ≈ 1.3 mA。若 VCC = 5 V,目标在低电平时把输出拉低至 VCE(sat) ≈ 0.1 V,则上拉电阻最大约 R = (5 V − 0.1 V) / 1.3 mA ≈ 3.77 kΩ。设计时应按 CTR 最小值校核电平与上拉阻值。
  • 响应速度:上升/下降时间在微秒量级,适合 MCU 接口、状态信号隔离及开/关控制信号,但不适合高频或高速数据链路(如高速 UART、SPI 大速率场合需额外验证)。

四、典型应用场景

  • MCU 与电源/高电压电路之间的数字隔离接口
  • 开关电源的反馈与控制隔离(光耦隔离采样信号)
  • 工业控制信号隔离(PLC 输入/输出)
  • 电机控制板、继电器驱动隔离、线路故障保护
  • 需要高 CTR 的低驱动电流场合以降低 LED 驱动功耗

五、封装与引脚说明

  • 封装形式:标准 DIP-4,便于原型开发与插板应用,适合穿透式焊接或插座安装。
  • 输出通道数:1 通道(单路隔离)。
    (详细引脚排列请参考厂方数据手册:包括 Anode、Cathode、Collector、Emitter 标识与焊接注意事项。)

六、使用注意事项与可靠性建议

  • 正向电流 If 不可超过 50 mA;长期工作建议采取更保守的 If(例如 ≤ 20 mA)以提高寿命与稳定性。
  • 反向电压 Vr 不可超过 6 V,否则 LED 可能受损。
  • 输出端最大承受电压 80 V,集电极电流上限 50 mA;若负载或外部电路可能产生尖峰电压或电流,应增加限流或吸收元件保护。
  • 由于 CTR 波动较大(130%~260%),在关键电平判别或模拟测量中应按最差(CTRmin)情况设计,或在电路中采用闭环/滞回/检流方式提高可靠性。
  • 环境与焊接:工作温度 -55 ~ +110 °C,注意焊接温度与时间限制,避免超温导致封装或内部黏结材料老化。储运与安装时防静电、避免机械应力。

如需更详细的电气特性曲线、典型应用电路图、引脚排列图或可靠性试验数据(如寿命与插拔循环、绝缘耐压测试条件),建议索取恒拓电子 HT-817-B-F 的完整数据手册以便在设计和可靠性评估中使用。