型号:

OPA2727AIDR

品牌:TI(德州仪器)
封装:SOIC-8
批次:23+
包装:编带
重量:-
其他:
OPA2727AIDR 产品实物图片
9.5
OPA2727AIDR 一小时发货
描述:运算放大器 30V/us 双路 85pA 20MHz
库存数量
库存:
926
(起订量: 1, 增量: 1
最小包:2500
商品单价
梯度内地(含税)
1+
8.778
2500+
8.4835
产品参数
属性参数值
放大器数双路
增益带宽积(GBP)20MHz
输入偏置电流(Ib)500pA
输入失调电压(Vos)150uV
共模抑制比(CMRR)94dB
压摆率(SR)30V/us
输出电流55mA
输入失调电压温漂(Vos TC)600nV/℃
静态电流(Iq)4.3mA
工作温度-40℃~+125℃
单电源4V~12V
双电源(Vee ~ Vcc)2V~6V;-6V~-2V
最大电源宽度(Vdd-Vss)12V
噪声密度(eN)6nV/√Hz@100kHz
输入失调电流(Ios)100pA

OPA2727AIDR 产品概述

一、产品简介

OPA2727AIDR 是德州仪器(TI)推出的一款双路精密运算放大器,封装为 SOIC-8。器件在低噪声、低失调和中等带宽/跃变速率之间实现了平衡,适合对精度和响应速度都有要求的供电受限或便携类系统。典型特性包括 20 MHz 的增益带宽积和 30 V/µs 的压摆率,同时保持微安级以下的输入偏置/失调电流参数,使其在模拟前端和传感器接口中表现优异。

二、主要参数(摘要)

  • 放大器数:双路
  • 增益带宽积(GBP):20 MHz
  • 压摆率(SR):30 V/µs
  • 输入偏置电流(Ib):约 500 pA
  • 输入失调电压(Vos):150 µV(典型)
  • 输入失调电压温漂(Vos TC):600 nV/℃
  • 输入失调电流(Ios):100 pA
  • 共模抑制比(CMRR):94 dB
  • 噪声密度(eN):6 nV/√Hz @ 100 kHz
  • 输出电流:55 mA(驱动能力)
  • 静态电流(Iq):4.3 mA
  • 工作温度:-40 ℃ ~ +125 ℃
  • 单电源供电范围:4 V ~ 12 V
  • 双电源供电范围:±2 V ~ ±6 V(Vdd−Vss 最大 12 V)
  • 品牌/封装:TI,SOIC-8

三、性能解析与设计优势

  • 低失调与低温漂:150 µV 的输入失调电压配合 600 nV/℃ 的温漂,适合高精度直流放大或零点校准较少的系统,能降低后续校准工作量。
  • 低噪声:6 nV/√Hz(@100 kHz)在中高频谱段具有竞争力,适合做 ADC 驱动、精密缓冲或低噪声传感器前端。
  • 中等增益带宽与较高压摆率:20 MHz 的 GBP 与 30 V/µs 的 SR,能支持中等闭环增益下的带宽需求及快速信号边沿响应,适用于滤波器、采样保持前级与缓冲放大。
  • 输出驱动能力:最高可提供约 55 mA 输出电流,能驱动一般交流负载或短时驱动较低阻抗负载,但在大电流连续驱动时需注意功耗与热管理。
  • 宽供电范围:支持 4–12 V 的单电源或 ±2–±6 V 的双电源配置,适配多种系统电源拓扑,便于在便携式与工业系统中使用。
  • 低静态功耗:4.3 mA 的静态电流在双路配置中能取得功耗与性能的折衷,适合功耗敏感但对性能有一定要求的场合。

四、典型应用场景

  • 精密传感器接口(差分或单端放大)
  • ADC 驱动及采样前端(低噪声缓冲)
  • 有源滤波器(低失调、低漂移需求下的积分器/滤波)
  • 仪表放大器前置级与差分放大
  • 便携式测量设备和工业控制系统的信号调理

五、使用建议与注意事项

  • 电源与去耦:为保证噪声与瞬态响应性能,建议靠近电源引脚放置陶瓷去耦电容(例如 0.1 µF)并辅以电解或钽电容做低频去耦。
  • 输入保护与偏置:若用于光电流-电压转换(TIA)等对偏置电流非常敏感的场合,应评估 500 pA 级别的输入偏置对误差的影响,并考虑使用偏置补偿或选用更低偏置器件。
  • 输出负载与稳定性:驱动近零欧姆负载或容性负载时需关注相位裕度与稳定性,必要时在输出串联小电阻或增加补偿网络。
  • 工作电压边界:避免超过 Vdd−Vss = 12 V 的最大电源差,并确保在单/双电源配置转换时器件处于安全状态。
  • 温度与封装散热:在高温或大电流工作条件下注意封装散热,SOIC-8 的功耗限制需参照器件数据手册进行热设计。

六、封装与采购

器件型号:OPA2727AIDR;品牌:TI(德州仪器);常见封装:SOIC-8。购买与工程应用时,请参照 TI 官方数据手册获取完整的电气特性曲线、引脚排列和典型应用电路,以便进行精确设计与可靠性验证。