
TUSB1210BRHBR 为 TI(德州仪器)推出的一款符合 USB 2.0 规范的高速接口芯片,支持最高 480 Mbps 的数据传输速率。芯片适用于需要稳定 USB 2.0 物理层支持的嵌入式系统与外设,工作温度范围为 -40℃ ~ +85℃,适应工业级环境。封装为 VQFN-32-EP (5×5),利于高密度板级集成。
芯片需多路电源配合:
VQFN-32-EP 带有中心散热焊盘(EP),焊接至 PCB 接地平面以提高散热性能。建议在 PCB 下方设计热通孔/散热铜箔,并保证良好焊接以利于热量传导。器件在满载通信时应评估温升并适当预留散热余量。
适用于 USB 外围设备、嵌入式主控扩展、数据采集模块、工业通信接口以及需 USB 2.0 物理层支持的其他产品。
优势在于工业温度范围、低静态功耗(1 mA)与成熟的 USB 2.0 兼容性。设计时应重视电源完整性、差分信号完整性与ESD保护;在最终产品认证(USB-IF)或与主控芯片配合前,请参考 TI 官方数据手册与评估板进行验证。
如需更详细的引脚配置、时序、电气特性表与参考电路图,请参考 TI 官方资料或联系供应商获取原厂数据手册。