C1608X5R1E335KT000E 产品概述
一、主要参数
TDK 型号:C1608X5R1E335KT000E;封装:0603(1608公制,约1.6 × 0.8 mm);介质:X5R;额定电压:25 V DC;名义电容:3.3 μF;公差:±10%(K)。该器件为多层陶瓷贴片电容(MLCC),适合对体积和旁路性能有较高要求的场合。
二、产品特点
- 体积小、容值高:在0603封装中实现3.3 μF,具有较高的体积电容密度,便于高密度布局。
- 稳定性与温度特性:X5R 介质在 −55°C 至 +85°C 范围内工作,温度引起的电容漂移通常在规范范围内(X5R 属于中等稳定性陶瓷)。
- 低等效串联电阻(ESR)与低寄生电感(ESL):适合高频去耦和瞬态电流滤波。
- 商业级质量与大批量可供:TDK 品牌,适合消费类与工业电子中通用应用。
三、典型应用
- 电源去耦与旁路(CPU、PMIC、DC-DC 输出侧)
- 输入滤波与能量缓冲(便携设备、通信模块)
- 模拟电路的耦合/去耦(对噪声抑制有中等要求)
注:若用于汽车或高可靠性场合,请确认器件是否具备 AEC 等级或额外认证。
四、使用与布局建议
- 靠近负载或芯片电源引脚放置,走线尽量短且宽,减少回流环路面积。
- 对于多电平电源,建议并联不同容值和介质的电容以兼顾低频与高频性能。
- 焊接采用推荐回流曲线,避免过温或过长时间的再流,减少热应力对电容性能与寿命的影响。
- 避免 PCB 弯曲或强力刮擦,MLCC 对机械应力敏感,易在应力集中处出现裂纹。
五、电气性能注意事项
- DC 偏压效应:高介电常数陶瓷在施加直流偏压时电容会下降,建议查阅 TDK 数据手册中的偏压曲线,实际工作电容通常低于标称值。
- 温度依赖:X5R 在温度范围内电容变化应符合规范,但不如 C0G/NP0 稳定,关键电路请谨慎评估。
- 漏电流与耐压:请参考原厂数据表获取绝缘电阻、耐压与额定电流信息以满足系统设计要求。
六、包装与可靠性
标准供应形式为卷带(Tape & Reel)以适配贴片机,具体卷盘尺寸与包装量可向供应商确认。TDK 产品通常符合 RoHS 要求,生产和质量控制成熟,适合大规模制造。
七、选型与资料建议
完整型号 C1608X5R1E335KT000E 已包含关键规格,选型时请对比实际电压、环境温度、DC 偏压与寿命要求。强烈建议下载并参考 TDK 官方数据手册和温度/偏压特性曲线、回流焊接说明以及可靠性试验数据,以保证在目标应用中的性能与可靠性。若需更高温度稳定性或汽车级器件,可咨询替代型号或厂商支持。