型号:

MIC841HYMT-TR

品牌:MICROCHIP(美国微芯)
封装:VTDFN-6-EP(1.6x1.6)
批次:24+
包装:编带
重量:-
其他:
MIC841HYMT-TR 产品实物图片
MIC841HYMT-TR 一小时发货
描述:比较器-带电压基准-推挽式-6-TDFN(1.6x1.6)
库存数量
库存:
499
(起订量: 1, 增量: 1
最小包:5000
商品单价
梯度内地(含税)
1+
4.47
5000+
4.31
产品参数
属性参数值
滞后20mV
元件数1
安装类型表面贴装型
电流 - 输出(典型值)20mA
输出类型推挽式
电流 - 静态(最大值)3µA
类型带电压基准
电压 - 供电,单/双 (±)1.5V ~ 5.5V
工作温度-40°C ~ 85°C
传播延迟(最大值)12µs

MIC841HYMT-TR 产品概述

一、概述

MIC841HYMT-TR 是 Microchip(美国微芯)推出的一款单通道比较器,内置精密电压基准并采用推挽式输出,适用于低功耗、空间受限的表面贴装应用。器件封装为 VTDFN-6-EP(1.6 mm × 1.6 mm),器件数量 1,出厂为带卷带包装(-TR)。该器件工作电压范围宽,静态电流极小,配合小体积封装适合手持、便携及电池供电系统的阈值检测与电平比较。

二、主要特性

  • 品牌:Microchip(美国微芯)
  • 型号:MIC841HYMT-TR(6-TDFN,1.6 × 1.6 mm)
  • 类型:带电压基准的单路比较器
  • 安装类型:表面贴装(VTDFN-6-EP)
  • 供电电压:1.5 V ~ 5.5 V(单电源)
  • 静态电流(最大):3 µA(低功耗,适合电池应用)
  • 输出类型:推挽式,输出电流(典型):20 mA(可直接驱动小负载)
  • 滞后(迟滞):20 mV(典型/规格项)
  • 传播延迟(最大):12 µs(用于评估响应速度)
  • 工作温度范围:-40 °C ~ +85 °C
  • 包装:VTDFN-6-EP(1.6 × 1.6),带散热/接地暴露焊盘,-TR 表示卷带供货

三、封装与引脚说明(概要)

MIC841 的 6 引脚 VTDFN 封装尺寸紧凑,带中央暴露焊盘(EP)以改善热性能与接地。典型应用中需注意:

  • 将暴露焊盘焊接至 PCB 对应焊盘,连接到系统地以提升热扩散与 EMI 性能;
  • 保持器件附近的电源去耦(如 0.1 µF)尽可能靠近 VCC 引脚。

(详尽引脚功能以器件数据手册为准,此处为功能概要提示)

四、典型电气性能与设计要点

  • 低功耗特性:静态电流最大 3 µA,适合长时间待机与电池供电应用;
  • 输出驱动:推挽式输出可主动拉高与拉低,典型输出驱动能力 20 mA,能直接驱动 LED、小继电器驱动器的输入或逻辑门,但应注意输出在近电源轨时的电压饱和;
  • 滞后与噪声:20 mV 的迟滞有助于抑制小幅输入噪声导致的抖动;如信号噪声大于迟滞,可能仍需外部滤波或更大迟滞设计;
  • 响应速度:传播延迟最大 12 µs,适合中低速比较与断续事件检测,但不适用于高频或亚微秒级应用场合。

五、典型应用场景

  • 电池电压监控与欠压检测(支持 1.5 ~ 5.5 V 电源,适配常见电池化电源架构);
  • 电压门限检测与电平比较(带参考源,可简化外部器件数量);
  • 微控制器唤醒/复位检测、外部传感器阈值判断;
  • 低功耗便携设备、手持仪表、家用电子、工业低速阈值检测电路。

六、布局与外围设计建议

  • 电源去耦:在 VCC 与 GND 之间放置 0.1 µF 陶瓷去耦电容,尽可能靠近器件;在高噪声环境下可增加更大容量的旁路电容;
  • 地线与散热:将封装中央暴露焊盘焊接并通过多条过孔接至内部地平面,改善热阻与回流路径;
  • 输入滤波:对于噪声较大的输入信号,建议在输入与地之间并联小电容或采用 RC 滤波,以避免因噪声触发而导致误动作;
  • 布线:比较输入应尽量避开高速数字信号线及开关节点,减小感应噪声耦合。

七、选型与注意事项

  • 若应用对响应时间有严格要求(亚微秒级),应选择传播延迟更低的高速比较器;MIC841 的最大 12 µs 适合低速或中速场合;
  • 对于需要更大迟滞或更高噪声容限的应用,考虑外加正反馈网络以增大迟滞或选用自带更大迟滞的型号;
  • 推挽输出虽然能提供较好驱动能力,但在与不同逻辑电平接口时需确认输出饱和电压和输入阈值匹配;
  • 查阅官方数据手册以获取完整的引脚图、绝对最大额定值、典型曲线及温度漂移等细节参数,确保在边界条件下可靠工作。

八、结论

MIC841HYMT-TR 以其超小封装、内置电压基准、推挽输出和低静态电流的组合,非常适合对尺寸和功耗敏感且工作速率不高的阈值检测场合。合理的 PCB 布局与去耦措施可最大化器件性能表现。选型时需平衡响应速度、迟滞需求与输出驱动能力,必要时参考 Microchip 的完整数据手册与评估板资料以加速设计验证。