TDK CGA2B3X7R1H104KT0Y0F 产品概述
一、概述
TDK 型号 CGA2B3X7R1H104KT0Y0F 为表面贴装多层陶瓷电容(MLCC),规格为 100nF、额定电压 50V、温度特性 X7R、容差 ±10%,封装 0402(约 1.0 × 0.5 mm),适用于空间受限且对旁路/去耦有中等稳定性要求的电子设计。
二、主要性能特点
- 电容值:100 nF(0.1 µF),容差 ±10%(标称值基准温度)。
- 介质类型:X7R;温度范围典型为 -55°C 至 +125°C,温度变化引起的电容漂移在 X7R 规范内(较稳定但非 NP0/C0G 级别)。
- 额定电压:50 V DC,适合中低至中等电压电源去耦与旁路应用。
- 封装尺寸:0402(1005 公制),适合高密度贴装与微型电子产品。
- 制造商:TDK,品质与一致性可靠,适用于量产与工业级应用。
三、典型应用场景
- 电源去耦与旁路(PoL、LDO 输出、数字芯片电源脚附近)。
- 高密度移动设备、可穿戴、无线模块与射频前端的旁路/滤波。
- 模拟前端的局部去耦、耦合与去噪场合(对温漂要求不高的场景)。
- 一般电子产品中作为泛用型 MLCC 使用。
四、设计与使用建议
- DC 偏压效应:X7R 类型在较高直流偏压下会出现电容降低,实际电容请依据应用电压做实测验证,关键去耦电容建议预留裕量。
- 布局:贴装位置尽量靠近被去耦器件的电源脚,走线短且低阻抗;在多层板上使用靠近器件的多点并联以提高有效去耦。
- 焊接与回流:符合无铅回流工艺(参考 IPC/JEDEC 回流曲线,峰值温度约 260°C),避免反复高温循环导致可靠性下降。
- 机械应力:封装微小,易受焊盘应力或 PCB 弯曲影响,焊盘设计与回流、固化工艺需控制以减少裂纹风险。
五、可靠性与储存
- 建议按厂商说明进行防潮包装与回流前烘烤(若暴露于潮湿环境),避免潮解造成烫裂。
- 常规工作温度与老化性能良好,适合商业与工业级应用;在特殊环境(高温长时、震动冲击)下建议进行可靠性验证。
六、采购与替代
- 订购请使用完整料号 CGA2B3X7R1H104KT0Y0F,以确保规格一致。一般以卷带(Tape & Reel)方式供货,适合高速贴片机。
- 同类替代可考虑其他主流厂家的 X7R、0402、100nF、50V 产品,但需注意不同厂商在 DC bias、温漂与封装公差上的细微差异,替换前建议样机验证。
总结:该型号为小型化、通用型 X7R MLCC,适合高密度电路板的中等要求去耦与滤波场合,使用时关注直流偏压、贴装工艺与机械应力以确保长期稳定性。