型号:

FDC604P

品牌:ON(安森美)
封装:SuperSOT-6
批次:24+
包装:-
重量:-
其他:
-
FDC604P 产品实物图片
FDC604P 一小时发货
描述:P-Channel 20 V 33 mohm 1.8V Specified PowerTrench Mosfet
库存数量
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(起订量: 1, 增量: 1
最小包:3000
商品单价
梯度内地(含税)
1+
0.833
3000+
0.773
产品参数
属性参数值
数量1个P沟道
漏源电压(Vdss)20V
连续漏极电流(Id)5.5A
导通电阻(RDS(on))60mΩ@1.8V
耗散功率(Pd)1.6W
阈值电压(Vgs(th))1.5V@250uA
栅极电荷量(Qg)30nC@4.5V
输入电容(Ciss)1.926nF@10V
反向传输电容(Crss)185pF@10V
工作温度-55℃~+150℃
类型P沟道

FDC604P 产品概述

一、器件概况

FDC604P 是一款 P 沟道功率 MOSFET,额定漏源电压 20 V,适用于低压侧开关和高侧控制场景。器件采用 SuperSOT-6 小型封装,品牌为 ON Semiconductor(安森美),工作温度范围宽 (-55 ℃ 至 +150 ℃),便于工业级及车规-like 环境的使用。

(资料中还出现“33 mΩ”的描述,但给定的导通电阻参数为 60 mΩ @ VGS = 1.8 V;两者并不矛盾:RDS(on) 随栅源电压增加而下降,建议在最终设计前参考完整数据手册以确认不同 VGS 下的典型/最大 RDS(on) 值。)

二、主要参数(基于已给信息)

  • 类型:P 通道功率 MOSFET
  • 漏源电压 VDSS:20 V
  • 导通电阻 RDS(on):60 mΩ @ VGS = 1.8 V
  • 阈值电压 VGS(th):1.5 V @ ID = 250 μA
  • 栅极电荷 Qg:30 nC @ VGS = 4.5 V
  • 连续漏极电流 ID:5.5 A(条件依赖,需参照热阻和散热条件)
  • 功耗 Pd:1.6 W(封装及测试条件下的额定耗散)
  • 输入电容 Ciss:1.926 nF @ 10 V
  • 反向传输电容 Crss:185 pF @ 10 V
  • 封装:SuperSOT-6
  • 工作温度:-55 ℃ ~ +150 ℃

三、电气特性要点与设计影响

  • 导通损耗:以 RDS(on)=60 mΩ 为例,导通损耗 Pcond = I^2·RDS(on)。当电流较大时(例如 5 A),Pcond ≈ 1.5 W,接近器件 Pd 标称值,说明在高电流工况下必须考虑良好散热或限流措施。
  • 阈值与驱动:VGS(th)=1.5 V(250 μA)表明器件在低电压门限下就开始导通,适合低压栅极驱动场合。但要获得表征的低 RDS(on) 仍需足够的 VGS,因此请根据实际栅极电平确认导通状态。
  • 开关特性与 Qg:Qg=30 nC @4.5V 属于中等门极电荷量,对门极驱动器的带宽与瞬态电流有一定要求。平均门极充放电电流 Ī = Qg × f:例如在 100 kHz 开关频率下,平均电流约 3 mA(30 nC × 100kHz),峰值电流需驱动器瞬态能力更强以在期望时间内完成转换。

四、热与功率管理建议

  • 封装限制:SuperSOT-6 封装热阻较大,器件的 Pd = 1.6 W 为典型数据,实际可承受的连续电流需结合 PCB 铜箔、散热面积和环境温度来热仿真或计算。
  • 实际示例:若以 RDS(on)=60 mΩ 且允许器件耗散不超过 1 W,则稳态电流应限制在 ≈4 A 以下(I = sqrt(P/R))。因此在高电流场合应采取并联 MOSFET、增加铜厚或使用更大散热结构。
  • 温度依赖:RDS(on) 随芯片温度上升而增加,设计时应考虑热漂移并留有裕量。

五、驱动与布局要点

  • 栅极驱动:建议使用能够提供较大瞬态电流的驱动器或在驱动路径上放置合适的阻尼(防振荡)电阻,使开关过渡既迅速又不会产生过大尖峰电流。
  • PCB 布局:尽量缩短漏源及源极回路的回流路径,增加散热铜面积(尤其是器件底部和与热垫相连的焊盘),并在高开关频率应用中注意减少寄生电感与环路面积。
  • 柔性保护:考虑在电路中加入限流、软启动或温度保护,避免长期在接近 Pd 的条件下工作。

六、典型应用场景

  • 低压功率管路的高侧开关(如便携设备电源切换)
  • 负载断开/保护电路(反向放电保护、负载切换)
  • 电池管理、便携电源路径控制(需结合电流与热管理设计)
  • 需要小封装、节省 PCB 面积的功率管理场合

七、选型与使用注意

  • 样片验证:基于封装热特性与所需持续电流,应在目标 PCB 上做实际热测与电测以确定安全工作区。
  • 对齐数据手册:上述参数来自提供资料,若要进行最终设计与可靠性评估,请参考 ON Semiconductor 官方完整数据手册,确认不同 VGS、温度下的 RDS(on)、脉冲电流能力、热阻与最大结温限制等详细规范。
  • 兼容性与替代:若实际应用需更低导通损耗或更高功率承载,建议考虑封装更大或 RDS(on) 更低的替代器件,或并联使用多个器件以分摊热负荷。

总结:FDC604P 在小封装下提供了 20 V P 沟道 MOSFET 的解决方案,适合空间受限且对导通电阻和驱动电压有中等要求的应用。关键在于合理评估热管理与栅极驱动,确保在目标工作点下器件长期可靠运行。